Міністерство освіти і науки Російської Федерації
Федеральне державне бюджетне освітня установа
вищої професійної освіти
реферативних РОБОТА
Дослідження магнітних властивостей матеріалів, мікроскопія магнітних сил, принцип роботи
Воронеж 2013
Введення
мікроскопія магнітний силовий
Магнітно-силова мікроскопія (ЧСЧ) є ефективним засобом досліджень магнітних структур на субмікронних рівні. Отримувані за допомогою МСМ зображення є просторовим розподілом деякого параметра, що характеризує магнітне взаємодія зонд-зразок, наприклад, силу взаємодії, амплітуду коливань магнітного зонда і т.д.
Магнітно-силовий мікроскоп (ЧСЧ) [6] був винайдений І.Мартіном і К.Вікрамасінгхом в 1987 р. для дослідження локальних магнітних властивостей зразків. Даний прилад являє собою атомно-силовий мікроскоп, у якого зонд покритий шаром феромагнітного матеріалу з питомою намагніченістю. У загальному випадку опис взаємодії зонда МСМ з полем зразка являє собою досить складну задачу.
1. Мікроскопія магнітних сил
Є унікальним інструментом для дослідження мікро-і наномагнітних структур, завдяки можливості вимірювання просторового розподілу намагніченості матеріалу поблизу досліджуваної поверхні. З цією метою для роботи в MFM моді використовуються зонди з тонкоплівкових феромагнітним покриттям. Вимірювання проводяться в безконтактному AFM режимі, при цьому система мікроскопа в процесі сканування поверхні реєструє викликані магнітним взаємодією зміни в резонансній частоті або відносному зсуві фази механічних коливань кантилевера щодо опорного сигналу, збудливого ці коливання. [4]
2. Магнітно-силова Мікроскопія (ЧСЧ)
Є ефективним засобом досліджень магнітних структур на субмікронних рівні. Виходила за допомогою МСМ зображення є просторовим розподілом деякого параметра, що характеризує магнітне взаємодія зонд-зразок, наприклад, силу взаємодії, амплітуду коливань магнітного зонда і т.д. Магнітний зондський датчик є стандартним кремнієвим (або виготовленим з нітриду кремнію) зондовим датчиком, покритим плівкою з магнітного матеріалу. МСМ вимірювання дозволяють проводити дослідження магнітних доменних структур з високим просторовим дозволом, запису та зчитування інформації в магнітному середовищі, процесів перемагнічування і т.д [1].
При проведенні магнітних досліджень на субмікронних рівні перш за все необхідно відокремити «магнітні» зображення від зображень рельєфу. Для вирішення цієї проблеми магнітні вимірювання проводяться за двухпрохідному методикою. На першому проході визначається рельєф поверхні за контактним або Переривчасто-контактного («напівконтактному») методам. На другому проході кожній лінії сканування (або зображення в цілому) кантилевер підводиться над поверхнею і сканування здійснюється відповідно до запомненним рельєфом. У результаті на другому проході відстань між сканируемой поверхнею і закріпленим кінцем кантилевера підтримується постійним. П...
