Міністерство освіти і науки Російської Федерації
РОСІЙСЬКИЙ ДЕРЖАВНИЙ УНІВЕРСИТЕТ
нафти і газу імені І. М. Губкіна
ЗВІТ
Тема: «Оптико-електронний метод визначення розмірів мікрооб'єктів поверхні зносу»
Виконав: студент групи МА - 11-7
Габдрахманов Д.І.
Перевірив: Доцент, к.т.н. Куракін І.Б.
Москва +2014
Мета роботи: освоїти метод оптико-електронного вимірювання розмірів мікрооб'єкту на поверхні зносу.
. Завдання
) Ознайомитися з набором приладів та обладнання, необхідних для проведення роботи;) Скласти перелік приладів і обладнання із зазначенням характерних для них особливостей і цілей використання кожного;) Вивчити методику визначення ціни поділки піксельної лінійки;) Покроково описати методику визначення ціни поділки; ) Провести вимір ціни поділки піксельної лінійки, користуючись зображенням лінійки об'єкт-мікрометра з допомогою Paint. Дані вимірювання занести в таблицю;) Використовуючи таблицю, розрахувати середньоарифметичне значення ціни поділки піксельної лінійки і середньоквадратичне відхилення цієї величини;) Знати термінологію, пов'язану з методикою і вміти проводити реальні виміри.) Провести короткий порівняльний аналіз оптико-візуального та оптико-електронного методів вимірювання розмірів мікрооб'єктів на поверхні зносу.
. Обладнання для проведення досвіду
Мікроскоп МІМ - 7, об'єкт-мікрометр, комп'ютер зі спеціалізованими програмами.
3. Перелік приладів та обладнання
МІМ - 7 - Мікроскоп інверсійний металографічний. Призначений для вимірювання збільшених непрозорих тіл у відбитому світлі. Має штатив, тубус і предметний столик.
Збільшення мікроскопа від 60 до 1440. МІМ - 7 має штатив, тубус і предметний столик.
Об'єктив призначений для формування пучка світла, спрямованого на об'єкт.
Об'єкт-мікрометр - металева пластина з отвором у центрі, де розміщена металева вставка-дзеркало. У центрі вставки вигравіювано лінійка довжиною 1 мм, розділена на 100 частин. Призначений для визначення збільшення поля зору мікроскопа, визначення ціни поділки шкал і сіток окуляр-мікрометрів (піксельної лінійки).
. Методика роботи
. Включити комп'ютер і запустити спеціалізовану програму
. Включити МІМ - 7;
. Встановити обьектив;
. Отримати зображення предметного столика на моніторі ПК;
. Помістити об'єкт-мікрометр на предметний столик мікроскопа;
. Відцентрувати зображення шкали об'єкт-мікрометра на екрані і зробити цифровий знімок;
. Відкрити графічний файл із зображенням шкали об'єкт-мікрометра в графічному редакторі Paint;
. Визначити число пікселів, що укладаються в базову довжину лінійки об'єкт-мікрометра допомогою піксельної лінійки;
. Обчислити ціну поділки піксельної лінійки за формулою:
Де - число поділок об'єкт-мікрометра;
-кількість пікселів;
=0,01 мм=10 мкм- ціна одного поділу шкали об'єкт-мікрометра.
5. Результати випробувань
№Кол-во ділень (вимірюваний ділянку) Кількість пікселів на вимірюваному ділянці Кількість пікселів в одному розподілі шкали об'єкт-мікрометра
1302458,22201658,33302839,44403278,25302458,2610828,27201658,38302468,29403298,210403318,311302438,112403047,613403298,214302468,215302478,216201648,217302448,118302458,219201658,320201638,22110838,322302458,223302458,2
Середньоарифметичне значення кількості пікселів в одному поділів об'єкт-мікрометра:
оптичний електронний розмір мікрооб'єкт
де - кількість пікселів в одному розподілі шкали об'єкт-мікрометра; кількість вимірювань
Т.к. в одному розподілі об'єкт-мікрометра 10 мкм або 8,2 пікселя, отже 1 піксель дорівнює 1,2 мкм.
Середньоквадратичне відхилення:
Висновок
Вивчивши дані, отримані за допомогою оптико-візуального та оптико-електронного методів визначення розмірів мікрооб'єктів поверхні зносу, і проаналізувавши підсумкові результати та методики проведення вимірі, можна виділити переваги і недоліки кожного методу:
Оптичний метод
