> Нахил плато лічильної характеристики,, не більше 0,15
Чутливість, 100-140
Власний фон,, не більше 0,6
Амплітуда імпульсу напруги, В, не менше 20
Ефективність реєстрації бета-випромінювання,%, не менше 45
Допустимий режим експлуатації:
Найменування параметра
Норма
Робочий інтервал напруги, В
320 - 450
Найбільша робоча потужність експлуатаційної дози гамма випромінювання, А/кг ()
5,16 О‡ 10 (20)
Найбільша робоча швидкість рахунку, імп/с
1900 - 3000
Вказівки з експлуатації:
При експлуатації лічильника значення величин, що визначають режим експлуатації, не повинні виходити за вказані значення.
Для тривалої і стійкої роботи лічильника необхідно:
А) не допускати попадання на лічильник всякого роду забруднень, що може погіршити його ізоляційні властивості;
Б) оберігати лічильник від ударів і механічних пошкоджень;
В) при включенні лічильника дотримуватись полярності.
3. Решта умов з експлуатації ССЗ 394022 ТУ
Дорогоцінних металів не містить.
IX. РОЗРОБКА МІКРОСХЕМИ ДЛЯ ЛІЧИЛЬНИКА СЛАБКОЇ БЕТА-ВИПРОМІНЮВАННЯ
Після ретельної перевірки працездатність схеми (Рис.17) з лічильником СТБ-13, необхідно розробити мікросхему, щоб наш лічильник був компактним і зручним у застосуванні.
p> А - лічильник СТВ-13 (4-ий контакт);
Б - лічильник СТВ-13 (8-ий контакт);
В - трансформатор (5-ий висновок);
Г - індикатор;
Д - міліамперметр;
Е - трансформатор (8 - го висновок);
Ж - трансформатор (6 - ий висновок);
З - міліамперметр.
X. ЗАСТОСУВАННЯ ЛІЧИЛЬНИКА
За допомогою лічильника слабкого бета - випромінювання можна зафіксувати рентгенівські промені.
При спостереженні дифракції рентгенівських променів, що відображають площині можуть бути розташовані або паралельно поверхні зразка, або перпендикулярно.
У першому випадку говорять, що кристал вирізаний по геометрії Брега.
У другому випадку говорять, що кристал вирізаний по геометрії Лауе. (Малюнок 18)
В
p>В
p> Розглянемо аномальне проходження рентгенівських променів . Направимо паралельний пучок монохроматичних рентгенівських променів паралельно площині. Якщо на шляху цього променя, що проходить крізь пластинку, поставити лічильник слабкого бета випромінювання, то можна буде зафіксувати рентгенівське випромінювання. (малюнок 19)
Позначимо інтенсивність падаючого променя J0, а виходить J, тоді отримаємо залежність:
J = J0 В· exp (-Ој0 В· t)
Ој0 - лінійний (фотоелектричний) коефіцієнт поглинання фотоелектричних променів. Залежить від сорту атомів досліджуваного зразка.
В
p> Якщо пластина вирізана з монокристала, що задовольняє моделі ідеального кристала, то повертаючи кристал щодо нормалі до поверхні зразка і площини малюнка до тих пір поки кут ковзання Q НЕ стане рівним куту Q з умови Вульфа-Брега:
2 В· d В· sin Q = О» (малюнок 19 промені 2, 2 'і 2 ")
Реєструючи лічильником прямий і відбиті промені ми можемо прийти до співвідношення:
J = J = 0,25 В· J0 В· exp (- Ој В· t)
Ој- інтерференційний коефіцієнт поглинання (аномальний). Отримуємо, що тут інтенсивність більше, ніж у випадку паралельного проходження рентгенівських променів, так як Ој> Ој0 (для Ge, Si, GaAs)
Вперше це явище виявив німецький фізик Борман. Для спостереження ефекту Бормана кристал повинен задовольняти умовам:
Кристал повинен бути практично бездефектний, ідеальним.
Кристал повинен бути "товстим", задовольняти умові: Ој0 В· t 10
Аномальне проходження буде можливо лише за умови виконання умови Вульфа - Брега.
СПИСОК ЛІТЕРАТУРИ
1. "Дозиметричні прилади ", під редакцією Г.А. Абрамова, Москва, 1958р. p> 2. "Схеми з напівпровідниковими приладами "(збірка перекладів) під редакцією Малініна Р.М., Військове видавництво: Москва, 1960р. br/>
