критичних технологій (включаючи нанотехнології) різко зростають вимоги до точності вимірювань і, як наслідок, до якості еталонної бази. Належить вирішити комплекс завдань метрологічного забезпечення розробки та освоєння критичних технологій.
Зростає роль метрології в розробці технічних регламентів, оскільки доказова база впровадження та дотримання ТР складається переважно з документів, регламентують методики виконання вимірювань, що простежуються до сучасних еталонам.
Дуже важливим напрямком діяльності Ростехрегулірованія є участь у виконанні федеральних цільових програм. Йдеться про метрологічне В«СупроводіВ» двох програм:
1) В«Глобальна навігаційна супутникова система (ГЛОНАСС)
2) В«Створення і розвиток нанотехнологій В»
СПИСОК ВИКОРИСТАНИХ ДЖЕРЕЛ ТА ЛІТЕРАТУРИ
1. Ліфиць І.М. Стандартизація, метрологія та підтвердження відповідності: підручник. 9-е вид., перераб і доп. - М.: Издательство Юрайт, 2010.-315 с. p> 2. Чижикова Т.М. Стандартизація, сертифікація, метрологія: Навчальний посібник. - М.: Колос, 2002. - 156 с. p> 3. . Крилова Г.Д. Основи стандартизації, сертифікації, метрології: Підручник для вузів. 2-е вид., перераб. і доп. - М.: ЮНИТИ-ДАНА, 2001. - 711с. <В
