ечовини здійснюють під дією падаючої електромагнітної хвилі вимушені коливання і внаслідок цього випускають вторинні хвилі когерентні c падаючою хвилею. Фактично має місце когерентне релеевскoе розсіювання на атомно-молекулярних системах. Додавання падаючої хвилі з вторинними створює відображені і заломлені хвилі.
дзеркально відбиваються (проникним без розсіювання) випромінювання шаром матеріалу будемо вважати такий шари який oтpaжает (пропускає) випромінювання, падаюче в напрямку? ,? в межах тілесного кута d? в напрямку ? r,? r (? r,? T), визначається законами відбиття і заломлення геометричної оптики, тілесний кут тих же розмірів d? r=d? T=d?.Совершенно Дифузно відображає (або проникним) випромінювання шаром будемо називати такий шар, який відображає (пропускає) падаюче випромінювання в усіх напрямках в півпростір, причому енергія в ньому розподіляється по всіх напрямках згідно закону Ламберта.
У загальному випадку дифузного опромінення (d? lt;? lt; 2?) величини потоків, виражені через функції інтенсивності випромінювання визначаться з виразів:
Падаючий на поверхню S потік з тілесного кута?:
відбитий шаром в тілесний кут? r потік:
пройшов крізь шар потік в тілесний кут? T
Підставляючи значення потоків Fп, FR, FT, знайдені за формулами (2.9.2) - (2.9.4), у співвідношення (2.9.1), отримаємо загальні вирази для величин відбивної і пропускна здібностей шару виду
Для спрощення виразу (2.9.5) падаючий потік Fп зазвичай висловлюють через ізотропний потік з постійним значенням В?,=const, не залежних від напряму (?,?) всередині будь-якого тілесного кута? в межах півсфери (? ? 2?),
Падаючий потік для різних умов опромінення c урахуванням (2.9.5) - (2.9.6) згідно (2.9.2) при обчисленні інтеграла від косинуса в межах? =2? буде дорівнює
Абсолютних методів вимірювання R і Т светорассеивающих матеріалів здійснено дуже мало. Тому зупинимося на теоретичному розгляді відносних методів вимірювань.
B випадку відносних вимірювань визначається відносна інтенсивність відбитих зразком і еталоном потоків випромінювання в заданому напрямку - (? r,? r) або (? t,? T). Для відбитого еталоном випромінювання може бути введена еквівалентна інтенсивність відбиття еталона, аналогічно інтенсивності джерела (2.9.6), в загальному випадку довільного опромінення наступній усередненої функцією:
Якщо еталон володіє відбивною здатністю рівною одиниці (Rе=1), то відбитий від нього потік F'R (?,? R) буде чисельно дорівнює падаючому потоку Fп (?) і можна записати
Порівнюючи (2.9.7) і (2.9.10), приходимо до важливого висновку, на якому засновані всі методи відносних вимірювань відбивної (пропускна) здатності светорассеивающих матеріалів
т. e. еквівалентні інтенсивності ідеального еталона, повністю відбиває падаюче випромінювання (Rе=1), і. джерела, облyчaющего цей етaлoн, рівні.
Отримаємо тепер новий вираз для відбивної здатності досліджуваного зразка при відносних вимірах в загальному випадку довільного опромінення, підставляючи значення Fп і FR з (2.9.3) і (2.9.9):
Введемо усереднену по куту еквівалентну інтенсивність відбитого еталоном потоку випромінювання в чисельник під знак інтеграла. Тоді замість (2.9.11) будемо мати для загального випадку опромінення довільним потоком
де - коефіцієнт яскравості зразка у разі опромінення його довільним потоком вилікування.
Як бачимо, величина ?? (?,?;? R,? R), залежить від умов опромінення. Для даного напрямку (? R,? R) за певних умов. Опромінення величина коефіцієнта яскравості визначається відношенням інтенсивності випромінювання, відбитого зразком, до інтенсивності випромінювання відбитого еталоном, однаково c ним освітленими мають відбивну здатність, рівну одиниці.
Коефіцієнт лучистости (яскравості) для відбиття ?? (? R,? R) і t? (? T,? T) для пропускання є характеристикою просторової форми індикатриси відбиття або пропускання. Відношення величини R (?,? R,? R) до повної відбивної здатності R (?,? R) для даного зразка є також вираженням індикатриси відображення r (?;? R,? R) при тих же умовах опромінення:
Більшість рассеивающих випромінювання матеріалів володіють змішаним характером віддзеркалення і пропускання.
З викладеного ясно, що величини R? і Т? залежать не тільки від властивостей матеріалу, але також і від умов опромінення. Тому для R і Т водять подвійну термінологію, що характеризує умови опромінення і властивості зразка,...
