х рентгенівських променів вирізається діафрагмою 1 з двома отворами діаметрами 0,5 - 1,0 мм. Розмір отворів діафрагми підбирається таким чином, щоб перетин первинного пучка було більше поперечного перерізу досліджуваного кристала. Кристал 2 встановлюється на гоніометричної голівці 3, що складається з системи двох взаємно перпендикулярних дуг. Тримач кристала на цій голівці може переміщатися щодо цих дуг, а сама гоніометричної головка може бути повернена на будь-який кут навколо осі, перпендикулярної до первинного пучку. Гоніометричної голівка дозволяє змінювати орієнтацію кристала по відношенню до первинного пучку і встановлювати певний кристалографічної напрям кристала вздовж цього пучка. Дифракційна картина реєструється на фотоплівку 4, вміщену в касету, площина якої розташована перпендикулярно до первинного пучку. На касеті перед фотоплівкою натягнута тонка дріт, розташована паралельно осі гоніометричної головки. Тінь від цього дроту дає можливість визначити орієнтацію фотоплівки стосовно осі гоніометричної головки. Якщо зразок 2 розташовується перед плівкою 4, то рентгенограми, отримані таким чином називаються лауеграмми. Дифракційна картина, реєстрована на фотоплівку, розташовану перед кристалом, називається епіграмою. На лауеграммах дифракційні плями розташовуються по зональним кривим (еліпсам, параболам, гіпербол, прямим). Ці криві є перетинами дифракційних конусів площиною і стосуються первинного плями. На епіграмах дифракційні плями розташовуються по гіпербол, що не проходять через первинний промінь.
Для розгляду особливостей дифракційної картини в методі Лауе користуються геометричній інтерпретацією з допомогою зворотного решітки. Лауеграмми та епіграми є відображенням зворотного решітки кристала. Побудована за лауеграмми гномонической проекція дозволяє судити про взаємне розташування в просторі нормалей до відбиваючим площинах і отримати уявлення про симетрії зворотного решітки кристала. За формою плям лауеграмми судять про ступінь досконалості кристала. Хороший кристал дає на лауеграмми чіткі плями. Симетрію кристалів по лауеграмми визначають за взаємною розташуванню плям (симетричному розташуванню атомних площин повинно відповідати симетричне розташування відбитих променів). (Див. мал. 3)
В
Рис. 3 Схема зйомки рентгенограм за методом Лауе (а - на просвіт, б - на відображення, F - фокус рентгенівської трубки, К - діафрагми, O - зразок, Пл - плівка)
В
Метод обертання монокристалу
Метод обертання є основним при визначенні атомної структури кристалів. Цим методом визначають розміри елементарної комірки, число атомів або молекул, що припадають на одну клітинку. За згасанні відображень знаходять просторову групу (з точністю до центру інверсії). Дані з вимірювання інтенсивності дифракційних максимумів використовують при обчисленнях, пов'язаних з визначенням атомної структури. При зйомці рентгенограм методом обертання кристал обертається або погойдується навколо певно...
