пропластков використовуються не тільки даних мікросканера, а й мікробокового каротажу і мікрозондів. При цьому виходять цілком прийнятні і порівнянні оцінки параметрів тонких пропластков. У той же час найбільш тонкі пропластки (h <5 см), які виділяються за мікросканеру, по МБК не виділяються. Іншими словами, методика SHARP дозволяє проводити аналіз тонкошаруватих розрізу з вертикальним дозволом самого високоразрешающем методу ГІС з комплексу, наявного в наявності. p align="justify"> До основних обмеженням методики SHARP належать такі:
Результати аналізу SHARP не єдиний і можуть бути еквівалентні, тому що однакові (у межах похибки) реконструйовані (розраховані) криві можуть бути отримані при використанні різних моделей розрізу. У міру зменшення товщини використаних у моделі пропластков невизначеність аналізу значно зростає. p align="justify"> В даний час реалізована тільки індивідуальна процедура згортки для кожного з методів ГІС.
Фільтри одновимірної згортки є лише апроксимаціями істинних геометричних факторів приладів.
Радіальні характеристики методів ГІС безпосередньо не враховуються.
Використання процедури одновимірної згортки за допомогою фільтрів для різних методів дозволяє отримувати геофізичні параметри тонких пластів з різної похибкою в залежності від фізичних основ методу і модифікації апаратури, що необхідно враховувати при подальшому використанні результатів SHARP при кількісній інтерпретації та оцінці застосовності даної методики для конкретного об'єкта. p align="justify"> Таблиця 1.2
ЕтапДействія1Созданіе першого наближення шаруватої моделі середовища. Встановлення меж пропластков по кривих ГІС високого вертикального дозволу (мікросканер, акустичний сканер, мікробоковой каротаж, Нахиломіри тощо) .2 Завдання значень різних геофізичних параметрів залежно від комплексу ГІС по виділених пластів. Перше інтерактивне редагування морфологічної моделі.3Виполненіе одновимірної згортки пластової моделі розрізу зі спеціальними фільтрами, определяющимися вертикальними геометричними характеристиками для конкретного типу апаратури. Отримання розрахункових (реконструйованих, відновлених) кривих окремих методов.4Сравненіе реконструйованої та зареєстрованої кривих. Оцінка збіжності по мінімуму середньоквадратичного отклоненія.5Ізмененіе прийнятих значень геофізичних параметрів по пластах для відповідного методу ГІС у випадку великої нев'язки. Повторення кроків 1-4 для даної кривої. Реалізація процесу ітерацій до отримання мінімальної невязкі.6Повтореніе процесу для всіх методів комплексу ГІС. p align="justify"> .5.3 Можливості мікросканеров при дослідженні трещинних колекторів
Застосування високоразрешающіх методів при дослідженні складних карбонатних колекторів дозволяє принципово підвищити ефективність комплексу ГІС. У трещинних колекторах за допомогою мікросканеров не тільки можн...
