span align = "justify"> - опір ближньої зони щільної частини породи, Ом * м; Е - сумарне перевищення електропровідності в трасі тріщини над полем щільною портик всередині виділеного прямокутного вікна; h - довжина лінійного сегмента траси тріщини у вікні; dA - площа поточного прямокутного вікна.
Оцінка удаваній розкритості тріщин і їх щільності проводиться за допомогою програми Borview в автоматичному режимі. Перед запуском програми проводиться калібрування зображень за допомогою кривих бічногокаротажу середньої глубинности LLS або мікросферичного MSFL методу. В інтерактивному режимі інтерпретатором проводиться трасування тріщин, класифікація їх за характером розкритості: відкриті - електропровідні (темні на зображеннях) і заліковані (закриті) - електронепроводящіе (світлі); задаються і контролюються величини опорів р т і p vo .
Потім програма проводить повну кількісну інтерпретацію підготовленого зображення по заданих параметрах і в результаті оцінює такі характеристики розрізу:
просторові характеристики становища
тріщин;
гадану розкриття тріщин безперервно по
розрізу;
середню щільність тріщин;
середній обсяг тріщин - "Тріщина ємність".
Високі дозволяють можливості мікроелектріческіх сканерів дозволяють проводити візуальний контроль техногенних тріщин, які зазвичай (на відміну від природних тріщин) реєструються тільки на двох черевиках сканера і не січуть осі свердловини.
.5.4 Можливості мікроелектріческіх сканерів при дослідженні каверново-порових колекторів
Використання мікроелектріческіх сканерів при дослідженні кавернозний-порові порід дозволяє отримати безперервно по розрізу свердловини принципово нову якісну і кількісну характеристику колекторів цього типу. На рис. 1.24 показані результати дослідження ділянки розрізу, представленого кавернозний-поровимі доломітами. На зображенні (трек 2) каверни чітко виділяються більш темними ділянками. Світлішими ділянками виділяються колектора порового типу і майже білими плямами характеризується щільна матриця. Як видно з прикладу, каверни розташовуються хаотично, на відміну від тріщин, які на іміджах відображаються у вигляді певної системи. p align="justify"> Поява мікросканеров з високими вирішуючими можливостями дозволили розробити нову методику аналізу їх результатів для кількісної оцінки ємнісного простору каверново-порових колекторів. Методика базується на використанні класичного рівняння Арчі-Дахнова Pп/PВ = а/КПN * Квm і реалізується за допомогою програми P...
