сті конденсатора з данім ізолятором до Ємності конденсатора з повітрянім ізолятором або под вакуумом. Діелектрічна пронікність візначається на зразки таких же Розмірів, что ї tg Оґ. p> Методика визначення Полягає в тому, что зразки стандартних Розмірів вітрімують 24 години в термостаті за 50 В± 3 Вє С і відносної вологості 20-30%. Потім їх прохолоджують до кімнатної температури в ексікаторі над хлористим кальцієм. Зразки поміщають у вімірювальній конденсатор между фіксованім електродом и рухлівім заземленням електродом. Потім підключають конденсатор до вимірювального приладнали ї відзначають показання приладнав: значення Ємності З 1 ЕТАЛОН конденсатора приладнав ї величину фактора ВТРАТИ, что віражає добротністю Q 1 , або величину tg Оґ 1 . Потім випробувань зразок виймають Із вимірювального конденсатора, рухлівій електрод опускаються до полного Зіткнення з ніжнім електродом, щоб фіксуваті паралельність їхніх робочих поверхонь. После цього вновь піднімають рухлівій електрод и відзначають фактор ВТРАТИ ( Q 2 або tg Оґ 2 ) вимірювального конденсатора без Зразки. При цьом Ємність ЕТАЛОН конденсатора приладнав винна зберігатіся постійною ї рівною З 1 , а підстроювання по Ємності здійснюється зміною відстані между пластинами Електродний прилаштую помощью мікрометрічного гвинта. После цього встановлюються зазор, дорівнює товщіні зразки, и роблять другий вимір Ємності ( З 2 ) еталонні конденсатори.
Діелектрічна пронікність обчіслюється по Формулі:
,
де d - товщина випробуваного зразки;
D - діаметр електрода;
З х - Ємкість випробуваного зразки в пікафарадах.
,
де З 1 и З 2 - Значення Ємності ЕТАЛОН конденсатора. p> Знак перед формулою поклади від типу приладнав: у випадка приладнав Із прямимо відліком Ємності - знак мінус и при відліку Ємності методом заміщення - знак плюс.
Тангенс кута діелектрічніх ВТРАТИ можна розрахуваті по добротності вимірювального ланцюга:
,
де Q 1 - добротність вимірювального контуру в прісутності випробуваного зразки;
Q 2 - добротність вимірювального контуру у відсутності випробуваного Зразки;
З - повна Ємність вимірювального контуру, яка дорівнює Ємності ЕТАЛОН конденсатора настроєного приладнати, коли вімірювальній контур відключеній;
З х - Ємність випробуваного зразки; Розраховується.
Если безпосередно віміряється tg Оґ , розрахунок ведеться за формулою:
,
де tg Оґ 1 - тангенс кута Втрата вимірювального конденсатора в прісутності зразки полімеру;
tg Оґ 2
