/p>
7. Вплив опромінення світлом на властивості плівок TiO2, виготовлених за золь-гель і гель технології
В роботі [10] було проведено дослідження впливу УФ опромінення на діоксид титану, виготовленого за золь-гель технології, методом ЕПР спектроскопії. На рис. 3.1 представлені ЕПР спектри, отримані в результаті експерименту.
Рис. 3.1. Спектри ЕПР зразків TiO2 до (спектр 1), в процесі (спектр 2) і через 10 хв після закінчення освітлення (спектр 3). Температура вимірювання 300 (a) і 10K (b). Тут числа над вертикальними стрілками дають значення g-факторів для відповідних сигналів.
Вимірювання були виконані на ЕПР-спектрометрі фірми Bruker ELEXSYS - 500 (робоча частота 9.5 ГГц, чутливість приладу травня 1010 спін/Гс). Вакуумирование зразків при залишковому тиску p? 10? 5 мбар протягом 2 ч виконувалося з використанням безмасляного вакуумного обладнання. Освітлення зразків здійснювалося безпосередньо в резонаторі спектрометра ЕПР світлом ксенонової лампи з інтенсивністю Iexc? 35 мВт/см2. Виміри виконані на повітрі при кімнатній температурі і в гелієвої атмосфері при низьких температурах.
Висновок
Аналіз робіт, присвячених оптичних хвилеводів і пристроям на їх основі показав, що золь-гель і гель методи створення оптичних хвилеводів є альтернативою іншим методам. Крім того, оптичні хвилеводи, сформовані на основі плівок, виготовлених за гель технології, забезпечують хороші оптичні характеристики і при цьому не вимагають дорогого обладнання та спеціально навченого персоналу для його обслуговування.
Хвилеводи, сформовані на основі зазначених плівок, володіють рядом специфічних властивостей, що дають великі перспективи в подальшому застосуванні даних хвилеводів в пристроях інтегральної оптики і волоконно-оптичних ліній зв'язку. Зокрема, розвиток ВОЛЗ передбачає розвиток їх елементної бази з метою поліпшення характеристик пристроїв, спрямоване на збільшення обсягу інформації, що передається по волокну (забезпечення термостабільності, підвищення спектрального дозволу інтерференційних пристроїв та ін.). До таких пристроїв відносяться оптичні хвилеводні системи ущільнення і розущільнення каналів, вузькосмугові фільтри, резонатори та ін. В даний час для їх створення використовуються різні нові матеріали і технології.
За час розвитку інтегральної оптики з'явилася достатня кількість способів поліпшення оптичних характеристик хвилеводів, що виготовляються за технологією золь-гель, а також безліч методик управління параметрами одержуваних плівок.
Слід зазначити, що хоч дана технологія тільки зараз знаходить своє застосування в елементах інтегральної оптики, вона вже здатна задовольнити максимально жорсткі вимоги, що пред'являються до елементів ВОЛЗ.
Список літератури
1. Чехлова Т.К., Живців С.В., Погосян А.С. Оптичні хвилеводи на основі плівок, виготовлених за технологією золь-гель//Вісник РУДН. Серія Фізика.- 2005. - № 1 (13).- С. 35-47.
. Тамір Т. Інтегральна оптика.- М .: МИР, 1978.
Трофимов Н.С. Дослідження температурних характеристик золь-гель хвилеводів з використанням термоелектричного модуля Пельтье//Дипломна робота - М. 2011 - С. 8 - 9 ..
4. M. Caplovi? Cov ?, P. Billik, L. Caplovi? C, V. Brezov ?, T. Tur? Nie, G. Plescha, P. Fejdi On the true morphology of highly photoactive anatase TiO2 nanocrystals - Applied Catalysis B: Environmental//117- 118 (2012) p. 224- 235.
5. Маркузе Д. Оптичні хвилеводи.- М .: МИР, 1974.
6. Soppera O., Moreira P.J., Marques P.V.S. , Leite A.P. Influence of Temperature and Environment Humidity on the Transmission Spectrum of Sol-Gel Hybrid Channel Waveguides//Optics Communications.- 2007. - Vol. 271. - Pp. 430-435.
7. Семенов А.С., Смирнов В.Л., Шмалько А.В. Інтегральна оптика.- М .: Радіо і зв'язок, 1990.
. Павлов С.В., Трофимов Н.С., Чехлова Т.К. Експериментальні дослідження оптичних характеристик золь-гель хвилеводів за допомогою термоелектричного модуля Пельтье.- М .: НІЯУ МІФІ - 2011. - С. 68-69.
9. Комоцкий В.А. Плоский оптичний хвилевід: Навчальний мет. посібник.- М .: РУДН, 2001.
. Е.А. Константинова, В.Я. Гайворонський, В.Ю. Тимошенко, П.К. Кашкаров Дослідження спінових центрів в нанокристалічному диоксиде титану з високим ступенем фотокаталітичною активності//Фізика і техніка напівпровідників, 2 010, том 44, вип. 8 С. 1093 - 1097.
