Теми рефератів
> Реферати > Курсові роботи > Звіти з практики > Курсові проекти > Питання та відповіді > Ессе > Доклади > Учбові матеріали > Контрольні роботи > Методички > Лекції > Твори > Підручники > Статті Контакти
Реферати, твори, дипломи, практика » Курсовые обзорные » Розрахунок температурних залежностей електрофізичних параметрів напівпровідників

Реферат Розрахунок температурних залежностей електрофізичних параметрів напівпровідників





вляється менше концентрації n i , а концентрацію диpок p p можна вважати приблизно рівною концентрації акцепторів N A.


.5 Основні і неосновні носії заряду


Носії заряду, концентрація яких в даному напівпровіднику більше, називають основними, а носії, концентрація яких менша, - неосновними. Так, в напівпровіднику л-типу електрони є основними носіями, а дірки - неосновними; в напівпровіднику р-типу дірки - основними носіями, а електрони - неосновними. p align="justify"> При зміні концентрації домішок у напівпровіднику змінюється положення рівня Фермі і концентрація носіїв заряду обох знаків, тобто електронів і дірок. Однак твір концентрацій електронів і дірок в невиродженому напівпровіднику при заданій температурі в умовах термодинамічної рівноваги є величина постійна, не залежна від вмісту домішок. Дійсно, з (1.1.3) і (1.1.6) маємо:


(1.5.1)


де - власна концентрація носіїв заряду при даній температурі.

Якщо, наприклад, в напівпровіднику n-типу збільшити концентрацію донорів, то зросте число електронів, що переходять в одиницю часу з домішкових рівнів у зону провідності. Відповідно зросте швидкість рекомбінації носіїв заряду і зменшиться рівноважна концентрація дірок. Вираз


(1.5.2)


часто називають співвідношенням В«діючих масВ» для носіїв заряду. З його допомогою завжди можна знайти концентрацію неосновних носіїв заряду, якщо відома концентрація основних. br/>

1.6 Температурна залежність концентрації носіїв заряду


Елементи статистики електронів. У широкому діапазоні температур і для різного змісту домішок мають місце температурні залежності концентрації носіїв заряду в напівпровіднику n-типу, зображені на малюнку 1.6.1


В 

Малюнок 1.6.1 - Типові залежності концентрації носіїв заряду в напівпровіднику від температури при різних концентраціях донорної домішки:


Розглянемо характер кривої, що відповідає відносно малій концентрації донорів N д1 . В області низьких температур збільшення концентрації електронів при нагріванні напівпровідника обумовлено зростанням ступеня іонізації донорів (ділянка кривої між точками 1 до 4). Кожен іонізований донор можна розглядати як центр, який захопив дірку. Враховуючи, що загальна кількість енергетичних станів на донорних рівнях в розрахунку на одиницю об'єму дорівнює N д1

Назад | сторінка 9 з 20 | Наступна сторінка





Схожі реферати:

  • Реферат на тему: Фосфор. Розподілення поля та заряду
  • Реферат на тему: Дослідження методів заряду акумуляторних батарей
  • Реферат на тему: Зарядний пристрій для заряду акумуляторної батареї
  • Реферат на тему: Модель розподілу концентрації механічних домішок у рідинах з використанням ...
  • Реферат на тему: Побудова кривої охолодження сплаву заданої концентрації з використанням діа ...