Введення
Курсовий проект з дисципліни «Теорія систем» містить два основних розділи:
) Дослідження обчислювальних систем неоднорідної структури;
) Параметрична корекція при оперативному управлінні багатономенклатурним виробництвом.
У розділі «Дослідження обчислювальних систем неоднорідної структури» необхідно вивчити технологічні етапи створення і використання імітаційних моделей, методи розробки і випробування імітаційних моделей складних систем, методику отримання статистичних оцінок параметрів систем і методи дослідження властивостей імітаційних моделей (тривалість перехідного процесу, стійкість і чутливість імітаційних моделей).
Імітація являє собою чисельний метод проведення на ЕОМ експериментів з математичними моделями, що описують поведінку складних систем (СС) протягом заданого або формованого періоду часу. Поведінка компонент СС та їх взаємодію в імітаційних моделях (ІМ) найчастіше описуються набором алгоритмів, що реалізуються на деякій мові моделювання. Всі ці описи являють собою програмну ІМ.
При побудові ІМ дослідника цікавить, насамперед, можливість обчислення деякого функціоналу, заданого на множині реалізацій процесу функціонування досліджуваної СС і характеризує поведінку об'єкта імітації. Найбільш важливим для дослідника функціоналом є показник ефективності системи. Імітуючи різні реальні ситуації на ІМ, дослідник отримує можливість вирішення таких завдань, як оцінка ефективності різних принципів управління системою, порівняння варіантів структури системи, визначення ступеня впливу змін параметрів системи і початкових умов імітації її поведінки на показник ефективності системи.
У розділі «Параметрична корекція при оперативному управлінні багатономенклатурним виробництвом» необхідно, на прикладі виробництва виробів мікроелектроніки, визначити оптимальні центри налаштування технологічного процесу при виробництві гібридних інтегральних схем. Формування номенклатури ІС проводиться шляхом їх класифікації за питомою поверхневому опору резистивної плівки. Необхідно визначити обсяг запуску виробів за умови використання двох центрів настройки технологічного процесу.
Найважливіший клас виробничих завдань випуску виробів мікроелектроніки (МЕ) пов'язаний з питаннями організації оперативного управління технологічними процесами (ТП), в результаті реалізації яких формуються класифікаційні параметри, що визначають тип вироби, а, отже, і номенклатуру виробів в цілому.
Неминучий розкид параметрів, що визначають наявність одного або декількох певних якісних ознак, вплив випадкових чинників призводить до випуску при єдиної технології виробів різних типів. В умовах масового виробництва виробів МЕ розкид значень параметрів, за якими визначається приналежність до того чи іншого типу неминучий. Тому після завершення технологічного циклу виготовлення виробів МЕ проводиться їх класифікація за номіналами.
Розділ 1. Дослідження обчислювальних систем неоднорідної структури
.1 Постановка завдання
Для моделювання запропонована СМО. Потік заявок в системі найпростіший з середнім часом надходження заявок, вказаним на схемі. Часи обробки заявок в системі розподілені е...
