их ліній ЕПР часто призводить Недозволеність надтонка структура. Ширина ліній циклотронного (діамагнітного) резонансу, відповідна переходам між рівнями Ландау, визначається частотою електрон-електронних зіткнень.
Використана література
1. Белов Н. Ст, Структурна кристалографія, М., 1951;
2. Б о к і й Р. Б., Порай-Кошиць М. А., Рентгеноструктурний аналіз, 2 вид., Т. 1, М., 1964;
. Липсон Г., Кокрен В., Визначення структури кристалів, пров. з англ., М., 1956;
. Бюргер М., Структура кристалів і векторний простір, пров. з англ., М., 1961;
. Г і н ь е А., Рентгенографія кристалів. Теорія і практика, пров. з франц., М., 1961;
6. Stout G, Н., J е ns е n L. Н., X-ray structure determination, NY- L., 1968;
7. X е і к е р Д. М., Рентгенівська дифрактометрія монокристалів, Л., 1973;
. Бландел Т., Джонсон Л., Кристалографія білка, пров. з англ., М., 1979;
. Вайнштейн Б. К., Симетрія кристалів. Методи структурної кристалографії, М., 1979;
10. Electron and magnetization densities in molecules and crystals, ed. by P. Becker, N. Y.- L., 1980;
11. Кристалографія і кристаллохимия, М., 1986;
12. Structure and physical properties of crystals, Barselona, ??1991. В. І. Симонов.
. Грим Р., Уширение спектральних ліній в плазмі, пров. з англ., М., 1978;
. Вайнштейн Л. А., Собель-ман І. І., Юков Е. А., Збудження атомів і розширення спектральних ліній, М., 1979;
