ння дает температуру фотосфери 6000 Оскількі Максимум ее випромінювання пріпадає на видимій світло - в середіні інтервалу для ХВИЛЮ видимого світла значення? ? 0,55 нм. У результате еволюції Головна живих організмів очей оказался «розрахованім» самє на максимум випромінювання Сонця.
) ЗАСТОСУВАННЯ спектрального АНАЛІЗУ в металургії, машинобудуванні, атомній индустрии За помощью спектрального АНАЛІЗУ можна віявіті Сейчас елемент у складі складного Речовини. Завдяк універсальності спектральний аналіз є основним методом контролю складу Речовини в металургії, машинобудуванні, атомній индустрии.
) ЗАСТОСУВАННЯ спектрального АНАЛІЗУ в кріміналістіці. У Сейчас годину в кріміналістіці широко Використовують телевізійні спектральні системи (ТСС) для Виявлення різного роду підробок документів: Виявлення залитих, закресленіх або віцвіліх (згасліх текстів, запісів, Утворення втиснути штрихами або Виконання на копіювального паперу; Виявлення Структури тканини; Виявлення ЗАБРУДНЕННЯ на тканинах ( сажа та Залишки мінеральних масел) при вогнепал?? них пошкодженнях и транспортних придатний; Виявлення замітив, а такоже розташованіх на Строката, темних и Забруднення предметах слідів крови. У криміналістичних лабораторіях широко Використовують Інструментальні методи АНАЛІЗУ атомного, молекулярного, фракційного и компонентного складу досліджуваніх об'єктів, а такоже їх крісталічної та іншої структур.
Найбільш часто! застосування інструментально-аналітичних методів дает інформацію про рід и вид досліджуваного Речовини чі вироби, Наприклад: отрута, наркотик, паливно-мастильними, вибухово, харчову Речовини, что має істотне значення для загально орієнтування в обставинні справи та розробці різніх версій. Виявлення Випадкове домішок, включення, накладення, відхілень від стандартної рецептури - або технології виготовлення дозволяє судити про джерело походження (місце виготовлення, Розповсюдження чі зберігання), партии и годині випуску виробів. Тім самим может буті ОТРИМАНО інформація про зв'язку зі злочином конкретних предметів и осіб.
Велике значення має такоже встановлення путем дослідження складу мікрочастінок накладення, механізму и топографії їх Нанесення факт контактної взаємодії про єктів, что вказує на причину зв язок Із злочином конкретних матеріальніх про єктів. Однозначна зв язок ОКРЕМЕ властівостей про єктів з природою малі місце вплівів на про єкт, что дозволяє Встановити суттєві обставинні справи, например :; розплавлення - нитки електролампі после ее пошкодження при наявності кісним Повітря, тобто тієї факт, что аварія став при включеній фарі; трівалій период ЕКСПЛУАТАЦІЇ моторної оливи, знайденого на місці дорожньої події. При віборі того чи Іншого інструментально-аналітичного методу кріміналістічного дослідження Враховується:
а) пов'язано его использование з пошкодженням (Знищення) Речовий доказ;
б) чутлівість методу;
в) его інформатівність, тобто ПРИРІСТ, Кількість и якість информации про досліджуваному об'єкті та ее роль у вірішенні криміналістичних Завдання.
Метод может дати інформацію про морфологію поверхні або елементів досліджуваного про єкта (волокна, кристала, Клітини), про склад Речовини (елементному, молекулярному, ізотопному, фазового, фракційному), про внутрішню структуру про єкта , про его фізичних та хімічніх властівостях. Оскількі кріміналістічне дослідження пов'язане, як правило, з аналізом малих и мікроскопічніх кількостей Речовини, яка грає роль Речовий доказ (методом мікроскопії, відбівної спектроскопії та люмінесцентного АНАЛІЗУ). Методи оптічної мікроскопії є найбільш Поширеними и Використовують в різніх модіфікаціях: в відбітому, что проходити и Поляризованность Світлі, з використанн світлого и темного поля, фазового контрасту, люмінесценцію в ультрафіолетовіх Променю. При цьом Використовують мікроскопі різного призначення: бінокулярні порівняльні (МБС), біологічні (МБІ), ультрафіолетові (МУФ), інфрачервоні (МІК), Інструментальні (МІМ).
Великий ОБСЯГИ цінної в кріміналістічному відношенні информации дает електронна просвітчаста и растровий мікроскопія. У Першому випадка зображення виходим за рахунок проходження пучка електронів через ультратонкі зрізі досліджуваніх про єктів або зняті з поверхні про єкта СПЕЦІАЛЬНІ реплікі. У растровому мікроскопі пучок електронів сканує поверхню об'єкту та его зображення виходим за рахунок вторинно електронів, Падіння Первін електронів. Електронна мікроскопія дозволяє отріматі дані про природу, склад и походження мікрочастінок, способи нанесення Речовини, например лакофарбова покриття (Заводська, кустарним), трівалості ЕКСПЛУАТАЦІЇ ВИРОБИ, характер вплівів, причини пошкодження (механічне, термічне), способах технологічної ОБРОБКИ виробів и ін.
Отже, коло харчування, Які вірі...
