Теми рефератів
> Реферати > Курсові роботи > Звіти з практики > Курсові проекти > Питання та відповіді > Ессе > Доклади > Учбові матеріали > Контрольні роботи > Методички > Лекції > Твори > Підручники > Статті Контакти
Реферати, твори, дипломи, практика » Курсовые обзорные » Розробка тестопригодності мікропроцесорної системи на базі мікроконтролера

Реферат Розробка тестопригодності мікропроцесорної системи на базі мікроконтролера





зних ділянках ланцюга. p align="justify">) Метод виключення - елементи, що входять до складу блоків ЕВС, умовно можна розділити на 2 групи: основні і допоміжні. До основних відносяться елементи, що формують вихідні параметри пристрою. До допоміжних, відносяться елементи, призначені забезпечити якість вихідних параметрів (пристрій захисту по струму і напрузі, пристрій стабілізації вихідної рівня, додаткові фільтри з харчування і т.д.). Метод виключення полягає в тому, щоб з несправного блоку вилучити допоміжний елемент і провести аналіз блоку в цілому. Основні способи відшукання несправностей: з'єднання або закарачіваніе електричних ланцюгів, відключення елементів, виключення послідовних і паралельних ланцюгів тощо


НеісправностьПрічінаМетод устраненіяНе надходить харчування на устройствоОтсутствіе контакту, відсутність напруги в сетіПроверіть наявність напруги в мережі, перевірити контакт провідників харчування та устройстваНе працює світлова індікаціяОтсутствіе напруги живлення в пристрої, вихід з ладу світловий індікацііПроверіть наявність напруги живлення, перевірити світлову індикацію на працездатність


2.4 Розробка технологічної інструкції технічної експлуатації мікропроцесорної системи


Розроблена мікроконтролерна система призначена для тестування ІМС типу К155ІМ1, за принципом В«ПридатнийВ»/В«НепридатнийВ», виконуючи функціональний контроль інтегральної мікросхеми.
Для підключення до пристрою інтегральної мікросхеми використовується роз'єм (сокет) для корпусу типу DIP-14.
Технічна інструкція технологічної експлуатації мікропроцесорної системи з перевірки інтегральної мікросхемі:

) Включити електроживлення пристрою, при цьому загоряється індикатор з написом В«ГотовийВ».

) Вставити тестовану інтегральну мікросхему в сокет пристрою.

) Натиснути кнопку з написом В«ТестВ». При натисканні кнопки В«ТестВ» подається електроживлення на тестовану інтегральну мікросхему і гаситися індикатор В«ГотовийВ». p align="justify">) Вибирається режим тестування за допомогою кнопки В«Автоматичний/РучнийВ».

.1) При натисканні кнопки В«Автоматичний/РучнийВ», вибирається ручний режим тестування, який виконується при натисканні кнопки В«КрокВ». При цьому на цифровий індикації відображається номер рядка діагностичного тесту, а на світлодіодним індикації, стан виходів тестованої інтегральної мікросхеми та результати тестування на індикаторах В«НормаВ» і В«ПомилкаВ». p align="justify"> .2) При віджатому стані кнопки В«Автоматичний/РучнийВ», вибирається автоматичний режим тестування. При цьому результати тестування відображаються на індикаторах В«НормаВ» і В«ПомилкаВ». p align="justify">) Після закінчення тестування натиснути кнопку В«СкиданняВ» для переведення пристрою в початковий стан....


Назад | сторінка 13 з 15 | Наступна сторінка





Схожі реферати:

  • Реферат на тему: Розробка інтегральної мікросхеми параметричного стабілізатора
  • Реферат на тему: Розробка захищеної системи тестування
  • Реферат на тему: Розробка Автоматизованої системи тестування студентов
  • Реферат на тему: Розробка захищеної системи тестування з використанням WEB-програмування
  • Реферат на тему: Проектування і розробка мережевої системи тестування студентів