/>
Додаток 1
Таблиця параметрів атомних силових мікроскопів
В
Список використаних джерел
1. Нанотехнології в найближчому десятилітті. Під редакцією М.К. Роко, Р.С. Вільямса, П.А. Алівісатос. М., 2002. p align="justify">. Головін Ю.І. Введення в нанотехнологію. М., 2003. p align="justify">. Миронов В.Л. Основи скануючої зондової мікроскопії. Нижній Новгород. 2004. 114с. p align="justify">. Журнал Наука і життя .1989. № 9.
. Г.Бінніг, Х.Рорер. Сканирующая тунельна мікроскопія - від народження до юності. Нобелівські лекції з фізики - 1986. УФН, т. 154 (1988), вип.2, с. 261. p align="justify">. А.А. Бухараев, Д.Б. Овчинников, А.А. Бухараєва. Діагностика поверхні за допомогою скануючої силової мікроскопії (огляд). Заводська Лабораторія. Дослідження структури і властивостей, Фізичні методи дослідження та контролю. 1996, № 1, с.10-27. p align="justify">. J.A.Kubby, J.J.Boland. Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Surfaces. Surface Science Reports, 26, 61 (1996). p align="justify">. B. Cappella, G. Dietler. Force-distance curves by atomic force microscopy. Surface Science Reports 34, 1 (1999). p align="justify">. В. Л. Миронов. Основи скануючої зондової мікроскопії/Навчальний посібник для студентів старших курсів вищих навчальних закладів. Російська академія наук, Інститут фізики мікроструктур. Нижній Новгород, 2004 - 110 с. p align="justify">. T.Sakurai. Advances in scanning probe microscopy. Springer-Verlag, 2000. p align="justify">. Сканирующая тунельна мікроскопія - новий метод вивчення поверхні твердих тіл. Соросівський освітній журнал, 2000, т.6, № 11 С. 1-7. p align="justify">. В.С.Едельман. Сканирующая тунельна мікроскопія (огляд). ПТЕ, 1989, № 5, с.25. p align="justify">. П.А. Арутюнов, А.Л. Толстіхина. Атомно-силова мікроскопія в задачах проектування приладів мікро-і наноелектроніки. Частина I: Мікроелектроніка, 1999, том 28, № 6, с. 405-414. Частина II: Мікроелектроніка, 1999, том 29, № 1, с. 13-22. p> 14. R. V. Lapshin, Analytical model for the approximation of hysteresis loop and its application to the scanning tunneling microscope <, Review of Scientific Instruments, vol. 66, no. 9, pp. 4718-4730, 1995. p>. R. V. Lapshin, Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology, Nanotechnology, vol. 15, iss. 9, pp. 1135-1151, 2004. p>. R. V. Lapshin, Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition, Measurement Science and Technology, vol. 18, iss. 3, pp. 907-927, 2007. p>. R. V. Lapshin, O. V. Obyedkov, Fast-acting piezoactuator and digital feedback loop for scanning tunneling microscopes, Review of Scientif...
