операції пошуку резонансу необхідно натиснути кнопку RUN.
Режим Manual дозволяє вручну міняти обрану частоту, пересуваючи зелений курсор на графіку за допомогою миші, а також уточнити характер зміни амплітуди коливань у вузькому діапазоні значень навколо вибраної частоти (для цього необхідно встановити перемикач Manual Regime в положення Fine і натиснути кнопку RUN).
Захоплення взаємодії
Для захоплення взаємодії виконую процедура контрольованого зближення зонда і зразка за допомогою механізму автоматизованого підвода. Вікно управління цією процедурою викликається натисканням кнопки панелі керування приладом і вибором в випадаючому меню. При роботі з ССМ ця кнопка стає доступною після виконання операції пошуку і установки резонансної частоти. Вікно Scanning Force Microscopy, Landing (Мал. 49) містить елементи управління підведенням зонда, а також індикації параметрів, які дозволяють аналізувати хід виконання процедури.
Рис. 49. Вікно режиму захоплення взаємодії
У вікні LANDING маємо можливість спостерігати за наступними величинами:
витягнутість сканера (Scanner Protraction) по осі Z відносно максимально можливого, прийнятої за одиницю. Величина відносного подовження сканера характеризується рівнем заповнення лівого індикатора кольором, відповідним зоні, в якій знаходиться сканер в поточний момент: зелений колір - робоча зона, синій - поза робочої зони, червоний - сканер підійшов надто близько до поверхні зразка, що може спричинити деформацію зонда. В останньому випадку програма видає звукове попередження;
амплітуда коливань зонда (Probe Oscillation Amplitude) щодо амплітуди його коливань у відсутності силового взаємодії, прийнятої заедініцу. Величина відносної амплітуди коливань зонда показана на правому індикаторі рівнем його заповнення бордовим кольором. Горизонтальна мітка на індикаторі Probe Oscillation Amplitude вказує на рівень при переході через який здійснюється аналіз стану сканера і його автоматичний висновок в робоче положення;
кількість кроків (Steps), пройдених в заданому напрямку (ProbeMoving): Landing- зближення, Rising- видалення.
До початку процесу опускання зонда:
. Переконався, що в елементі Probe Moving обраний пункт Landing (зближення)
. Перевірив правильність установок параметрів зближення:
коефіцієнт посилення в ланцюзі зворотного зв'язку Feed Back Loop Gain встановлений на значенні 3,
Натиснув кнопку Set Interaction і переконався, що параметр Amplitude Suppression у вікні Set Interaction (Мал. 50) має величину близько 0.3.
Рис. 50. Вікно установки величини взаємодії зонда і зразка
. Натиснув на кнопку RUN.
Індикатор Steps починає відраховувати пройдені кроки. Після захоплення взаємодії з'являється повідомлення Landingdone.
Для виведення зонда з зворотного зв'язку і збільшення відстані між зондом і зразком використовується режим відводу зонда (Probe Moving: Rising). Для виконання операції відводу вибрав напрямок руху Probe Moving: Rising і натиснув кнопку RUN.
Сканування
Після виконання процедури підведення (Landing) і захоплення взаємодії стає доступним сканування (кнопка у вікні панелі керування приладом).
Натиснувши цю кнопку (вид вікна сканування представлений на Рис. 51), приступив безпосередньо до проведення вимірювань і отриманню результатів вимірювань.
У режимі сканування встановив параметри сканування. Ці параметри згруповані в правій частині верхньої панелі вікна Scanning.
У перший раз після запуску програми вони встановлюються за замовчуванням:
Площа сканірованіяScan Area (Xnm * Ynm): 5000 * 5000 нм;
Кількість точок
вимірювань за осямX, Y: NX=100, NY=100;
Швидкість сканірованіяVelocity=1000 nm/s;
Шлях сканірованіяPath визначає напрямок сканування. Програма дозволяє вибирати напрямок осі бистрогос канірованія (Х або Y). При запуску програми встановлюється Path=X +.
Після завдання параметрів сканування натиснув кнопку Apply для підтвердження введення параметрів і кнопку RUN для початку сканування.
Рис. 51. Вікно управління процесом і відображення результатів сканування ССМ
Для збереження результатів вимірювання натиснув кнопку Save Experiment у вікні сканування і у вікні діалогу вибрав каталог і вказав ім'я файлу.
Список використаних джерел
1. Булигіна Е.В, Макарчук В.В, Панфілов Ю.В., Оя Д.Р., Шахно В.А. «Нанорзмерние структури: класифікація, формування і дослідження»: Навчальний посібник для Вузів. М .: 2006 р
. В.Л. Миронов. Основи скануючої зондової мікроскопії. Навчальний посібник для студентів старших курсів вищих навчальних закладів. ІФМ ран- р Н. Новгород, 2004
. Дєдков Є.Г., Чуприк А.А., Бобринецький І.І.,...
