рен практично відсутня, і є тільки межі розділу зерен - інтерфейси. Освіта інтерфейсів і В«зникненняВ» поверхні наночастинок (нанозерен) - принципова відмінність тривимірних компактних наноматеріалів від нанокристалічних порошків різного ступеня агломерації, що складаються з частинок такого ж розміру, як і компактний наноструктурованого матеріал. <В
Рисунок 1 - Типи нанокристалічних матеріалів по розмірності структурних елементів: 0D (нульмерние) кластери; 1D (одномірні) нанотрубки, волокна і прутки; 2D (двовимірні) плівки і шари; 3D (тривимірні) полікрісталли
1.2 Класифікація методів дослідження наноструктурованих поверхонь
Фізичні методи, найбільш часто використовувані в даний час для дослідження наноструктур і поверхні твердого тіла, представлені в табл. 1. В основу даної таблиці покладена угруповання методів за способом зовнішнього впливу на досліджуваний об'єкт і за типом реєстрованого відповідного сигналу. Внизу таблиці дана розшифровка скорочених назв перерахованих в ній методів. p align="justify"> Різні методи дозволяють отримати різну інформацію про досліджуваний об'єкт. Як правило, при аналізі наноструктур і поверхні твердого тіла найбільш важливою є інформація про їх атомної структурі, елементному складі та електронних властивостях. p align="justify"> Таблиця 1 - Основні фізичні методи дослідження наноструктур і поверхні, згруповані за типами впливу на досліджуваний об'єкт і реєстрованого сигналу, hv - електромагнітне випромінювання, е-, N + - пучки прискорених електронів та іонів. Т-температура
Реєстрований сігналВоздействіе на ііследуемий об'єкт h? eN В± Інше h? РСА, РЕЗ, РАСРФЕС, УФЕС, ФЕС, РОЕСe-РСМА, ІФЕСОЕС, ДМЕ, РЕМN В± ІНССРМІ, СРБІ, ОРР, ВІМСТ, поле, прочееСТМ, СТСПІМ, ТПДАСМ, МСМ
Так, метод ДМЕ (дифракція повільних електронів) дозволяє визначити структуру кристалічної решітки зразка, РЕМ (растрова електронна мікроскопія) використовується для дослідження морфології об'єктів з розмірами> 10 нм, а СТМ (скануюча тунельна мікроскопія) і АСМ (атомно-силова мікроскопія) дозволяють спостерігати окремі атоми на поверхні твердого тіла. Крім того, деякі методи висувають певні вимоги до досліджуваних зразків. Наприклад, методи СТМ (скануюча тунельна мікроскопія), СТС (скануюча тунельна спектроскопія) застосовні тільки для провідних зразків, ЧСЧ (магнітно-силова мікроскопія) - для дослідження магнітних матеріалів, ПЕМ (просвітчаста електронна мікроскопія) використовується для аналізу тонких плівок.
1.3 Застосування наноструктурованих поверхонь
Практичне застосування наноматеріали знаходять вже зараз у багатьох областях. Їх електричні, оптичні і механічні властивості вказують...
