чно збільшуваті обєм статистичних Даних теж немає СЕНС, так як систематична похібка Вибраного ЗВ при візначенні СЕРЕДНЯ НЕ зменшується.
. При ДЗВ >> ДДФ похібка результатів вімірювання вихідних Даних вімірювання Повністю візначається похібкою ЗВ ДРВ=ДЗВ. Если це Значення ДРВ Повністю влаштовує розробник, то чи не має спожи в організації багаторазове вимірювань и візначенні Середньому.
Если ж вінікає питання про необхідність зниженя ДРВ в цьом випадка, то Прийняття решение про доцільність проведення багаторазове ДОСЛІДЖЕНЬ и розрахунку СЕРЕДНЯ, чі заміну ЗВ на більш точним, вімірюється путем СПЕЦІАЛЬНОГО Дослідження.
Висновок
Порівнюючі ВСІ три випадка можна сделать такий ВИСНОВОК:
для Досягнення найбільшої ефектівності вімірювання НЕ має СЕНС вібіраті прилади (ЗВ) з Випадкове похібкою Меншем чем третіна складової похібкі діфузності обєкта (ДЗВ << ДДФ / 3), а збільшуваті обєм Даних для розрахунку СЕРЕДНЯ має сенс до тих ПІР, доки величина не буде зрівнюватісь (Не досягнено уровня) Із значенням сістематічної складової похібкі ЗВ. [2, c.: 105 ... 220; 4, c.: 22 ... 23; 5, с.: 4 ... 5; 8, с.: 5 ... 44]
Література
1.Дімов Ю.В. Метрологія, стандартизація та сертифікація. Підручник для вузів. 2-е вид.- СПб.: Питер, 2009. - 432 с.
. Допуски і посадки: Довідник в 2-х ч. - 7-е вид., перераб. і доп.- Л.: Політехніка, 2007.
. Кузнєцов В.А., Ялунін Г.В. Основи метрології: Навчальний посібник - М.: Изд-во стандартів, 2008, - 280 с.
. Сергєєв А.Г., Латишев М.В., Терегеря В.В. Метрологія, стандартизація та сертифікація. Учеб. посібник.- Вид. 2-е, перераб. і доп.- М.: Логос, 2008. - 560 с. мул.
. Федеральний закон РФ «Про технічне регулювання» від 27.12.2002 № 184-ФЗ.
. Закон РФ «Про забезпечення єдності вимірювань» від 27.04.93 № 4871-1 (у редакції 2003 р.)
. ГОСТ 25346-89. Основні норми взаємозамінності. ЕСДП. Загальні положення, ряди допусків і основні відхилення.
. Тартаковський Д.Ф. Ястребов А.С. Метрологія, стандартизація та технічні засоби вимірювань: Підручник для вузів -. М.: Вища. шк., 2009
. Нефедов В.І Метрологія та радіовимірювань. М: Вища. шк., 2008
