й. Підбиралися відповідні математичні функції із застосуванням пакета TableCurve 2D.2D - перша і єдина програма, яка автоматизує процес підгонки експериментальних кривих. p align="justify"> Використовуючи математичний пакет TableCurve 2D, який включає в себе вбудовану бібліотеку з широким спектром лінійних і нелінійних рівнянь (від простих лінійних рівнянь до високого порядку), можливо автоматично підібрати початкові значення параметрів, обраної функції (критерії якості) .
Програма автоматично покаже і виведе основні критерії якості функції:
Гј Коефіцієнт детермінації;
Гј Скоригований коефіцієнт детермінації;
Стандартна помилка
Гј Критерій Фішера
Гј Максимальна абсолютна помилка.
Дисперсність (від лат. dispersus - розсіяний, розсипаний), характеристика розмірів часток в дисперсних системах <# "justify">
Криві розподілу обсягу (маси) часток за розмірами: 1 - монодисперсні система; 2 - полідисперсна система. ? Min,? Max,? 0 - відповідно мінімальний, максимальний та ймовірність розмір часток; f (?) - Функція розподілу, частка обсягу (або маси) дисперсної фази <# "justify"> Рабинович Ф.М., Кондуктометричний метод дисперсійного аналізу, Л., 1970;
Коуз П.А., Основи аналізу дисперсного складу промислового пилу <# "justify"> Глава 3. Електронна мікроскопія
ЕЛЕКТРО? нна мікроскопі? Я, сукупність методів дослідження за допомогою електронних мікроскопів мікроструктур тіл, їх локального складу і локалізованих на поверхнях або в мікрооб'ємах тел електричних і магнітних полів. На першому етапі електронна мікроскопія застосовувалася в основному для спостереження біологічних об'єктів, причому для інтерпретації знімків використовувався лише адсорбційний контраст. Однак поява методу реплік - відбитків, зроблених з поверхні, і особливо декорування їх металами (1940-і-1950-і рр..) Дозволило успішно вивчати неорганічні матеріали - відколи й злами кристалів. Приблизно з початку 1950-х років починаються інтенсивні спроби дослідження тонких фольг матеріалів на просвіт. Це стало можливим у результаті істотного підвищення, до 100кВ, прискорює напруги в електронних мікроскопах. З цього періоду починається бурхливий розвиток електронно-мікроскопічної техніки, електронна мікроскопія знаходить все більш широке застосування у фізичному матеріалознавстві. Однією з найважливіших причин цього, мабуть, є можливість спостерігати в одному експерименті, як зображення об'єкта в реальному просторі, так і його дифракційну картину. Тому ЕМ є найбільш підходящим методом дослідження структур складних кристалічних об'єктів. Електронну мікроскопію можна розділити на 3 групи: просвічувати електронна мікроскопія (ПЕМ, Transmission electron ...
