ні - перекриття зразка, тобто поверхневий пробій (рис. 3).
Рис. 3. Схема пробою (1) і перекриття (2) зразка твердого діелектрика
У цьому випадку пробиваються повітря або рідина, навколишні зразок твердого діелектрика. Напруга поверхневого перекриття залежить від властивостей твердого діелектрика, форми зразка, електродів і закономірності пробою навколишнього середовища.
Експериментально визначається величина Е пр залежить від товщини зразка діелектрика, форми і площі електродів, швидкості підйому і часу впливу прикладеної напруги. Значення Е пр на постійній напрузі може сильно відрізнятися від Е пр на змінному, а також розрізняються значення E nр на імпульсній напрузі при частоті 50 Гц і при більш високих частотах. На величину Е пр впливають і інші фактори. Визначення електричної міцності проводиться стандартизованими методами. Тільки в цьому випадку можливі порівняння діелектриків між собою і контроль їх якості.
Зразки для визначення Е пр твердих діелектриків повинні забезпечувати пробій в однорідному полі; їх розміри задаються в стандартах, і вони набагато більше розмірів електродів для того, щоб виключити поверхневий пробій. Для запобігання поверхневого пробою можна проводити визначення Е пр на зразках, розташованих в рідкому діелектрику, наприклад трансформаторному маслі. На рис. 4 наведено форми і розміри ряду зразків для визначення Е пр твердих діелектриків. Якщо товщина зразка не дозволяє визначити його U Dp, то в ньому виконують проточку, як це показано для товстих плоского (рис. 4, б) і циліндричного (рис. 4, д) зразків.
Як електроди можуть використовуватися масивні металеві натискні електроди, виготовлені з нержавіючої сталі, міді, латуні та інших металів; притерті на вазеліні і трансформаторному маслі фольгові, напилені у вакуумі металеві, графітові й інші електроди. Для отримання в місці пробою однорідного поля діаметр D 1 нижнього електрода повинен бути не менше ніж у три рази більше діаметра D верхнього електрода (рис. 4, а). Можуть застосовуватися і електроди з однаковими діаметрами (рис. 4, в). Однорідне поле в тонких плівкових зразках забезпечує застосування напівсферичного верхнього електрода.
У керамічних зразках півсферичний електрод утворюється в результаті металізації напівсферичної лунки (рис. 4, г). Для визначення E nv рідких діелектриків використовують спеціальні комірки, виконані з порцеляни, скла, кварцу або спеціальних пластмас, які не реагують з випробуваними рідкими діелектриками. Електроди тут виготовляються з латуні.
Рис. 4. Зразки для визначення електричної міцності твердих електроізоляційних матеріалів
Вимірювання U np зразків діелектриків виробляється на випробувальних установках, принципова схема яких зображена на рис. 5.
Установка для вимірювання U пр при частоті 50 Гц (рис. 5, а) складається з випробувального трансформатора Т для підвищення напруги. Напруга на низьковольтної обмотці цього трансформатора плавно або ступенями змінюється за допомогою автотрансформатора А Т. Зразок 1 підключений за допомогою електродів 2 і 3 до високовольтної обмотці випробувального трансформатора. Захисний резистор R служить для обмеження струму, що протікає при пробої по високовольтної обмотці трансформатора Т. Напруга на зразку вимірюється во...
