r/>
.5.1 Виділення тонких пластів з використанням мікросканеров
Останнім часом при дослідженні тонкошаруватих розрізів все ширше починають застосовуватися електричні та акустичні мікросканери, розроблені компанією Schlumberger. При використанні цих приладів можливе отримання безперервної картини поверхні порід стінки свердловини. Так, електричний мікросканер FMI охоплює практично весь периметр свердловини і дає розгортку поверхні стовбура, аналогічну розгортці поверхні керна. При цьому можливе виділення окремих деталей розрізу розміром від 0,5 см і більше. p align="justify"> Високі можливості виділення тонких пластів різної літології за даними мікросканера підтверджуються безпосереднім зіставленням з фотографіями керна. В якості прикладу розглянемо можливості виділення тонких елементів розрізу в інтервалі загальною товщиною 5 м по одному з родовищ шельфу острова Сахаліну (рис. 1.21). З аналізу малюнка слід, що в розрізі за даними FMI надійно виділяються:
масивні продуктивні пісковики (темні зони на розгортці FMI і світлі - на фотографіях керна);
щодо витримані по товщині інтервали неколлекторов, представлених щільними аргиллитами (світлі зони на розгортці FMI і темні - на фотографіях керна);
тонкі прошарки колекторів у вміщають непроникних породах і навпаки.
Важливо вказати, що в даному прикладі зміна літологічних характеристик розрізу, встановлюваних за зовнішнім виглядом керна, підтверджується результатами визначення основних ФЕС - пористості і проникності. Зокрема, пропласток товщиною в 10 см (2166,05 - 2166,15 м) при проникності в 500 мД очевидно повинен бути віднесений до колекторів. p align="justify"> За результатами досліджень високоразрешающем методами проводиться розчленування розрізу на пропластки і створюється попластовая модель. Дані сучасних високоразрешающіх методів ГІС, як правило, представлені набором кривих. Наприклад, картина, одержувана мікросканером, складається з більш ніж 100 кривих; запис Нахиломіри складається з 4 - 8 кривих залежно від модифікації приладу. Для поділу на пропластки використовується лише одна крива. Вибирається та крива, яка характеризується найкращою якістю і корелюється з даними стандартних методів ГІС, або розраховується нова крива з комбінації вихідних. Важливо відзначити, що розбивка на пласти базується на відносних відмінностях між суміжними пластами за двома можливими алгоритмами - мін/макс значень або точки перегину (рівності нулю другої похідної). Абсолютні значення властивостей або природа контрасту не істотні для алгоритму визначення кордонів. У разі, якщо за кривими Нахиломіри або мікросканера виявляються відмінності властивостей суміжних шарів, програма автоматично виділить кордон. p align="justify"> На рис. 1.22 показаний приклад створення шаруватої моделі на основі діаграми мікросканера з кроком дискретизації 3 см. Значення питомого опо...
