слід вважати провідними методами при вивченні карсту. При цьому постановка геофізичних робіт повинна тісно ув'язуватися з звичайними методами інженерно-геологічних досліджень (зйомка, буріння). Комплекс інженерно-геологічної зйомки та геофізичних досліджень дозволяє більш впевнено і якісно проводити оцінку закарстованних територій. br/>
3. Електророзвідка
Перші теоретичні та модельні роботи з електророзвідці карсту показали, що окремі карстові порожнини можуть бути відзначені тільки в тому випадку, якщо максимальні поперечні розміри по горизонталі рівні або перевищують глибину залягання порожнин. Дослідження проводилися в однорідному електричному полі постійного струму. Надалі ці висновки були підтверджені розрахунками за формулами А.І. Заборовського для кулі в полі точкових джерел. p align="justify"> На підставі теоретичних і модельних робіт Б.К. Матвєєв і А.А. Огільві сформулювали наступні важливі положення для методики електророзвідки карсту:
) карстові порожнини, що залягають вище рівня підземних вод, відзначаються на графіках електропрофілювання максимуму, а нижче - мінімуму здаються опорів;
) ймовірність виділення і тих і інших майже однакова за умови, що поперечні розміри порожнин по горизонталі рівні або перевищують глибину їх залягання;
) величина аномалій залежить від цілого ряду чинників: глибини залягання порожнин, їх горизонтальних розмірів, потужності проводять наносів, співвідношень УЕС порожнини і містять порід, а також від розмірів та виду установок.
У додатку на рис. 1 наводяться залежності величин аномалії ( h ) від розносів установок профілювання при різних глибинах залягання центру сфери h . Зазначені залежності отримані в відсутність проміжного шару. Для комбінованого та симетричного профілювання із збільшенням розносів значення аномалій дуже різко зростають, а потім повільно наближаються до асимптотичного значенням, відповідному величині аномалії в однорідному полі; при h = 1,2 асимптотичні значення практично досягаються при разносах, рівних 2. За наявності проміжного шару у вигляді проводять наносів величина аномалії уявного опору значно зменшується.
У додатку на рис. 2 показані криві симетричного електропрофілювання, отримані розрахунковим шляхом для випадків, коли куля залягає в середовищі, покритої наносами (суцільна крива), і без них (пунктирна крива). Зменшення амплітудних значень здаються опорів над середовищем з наносами становить 26,5%.
Для симетричного профілювання надійні результати виходять тільки при разносах лінії АВ, у 8 разів перевищують потужність наносів; при дипольному профілюванні відста...
