Теми рефератів
> Реферати > Курсові роботи > Звіти з практики > Курсові проекти > Питання та відповіді > Ессе > Доклади > Учбові матеріали > Контрольні роботи > Методички > Лекції > Твори > Підручники > Статті Контакти
Реферати, твори, дипломи, практика » Новые рефераты » Методи рентгеноструктурного аналізу

Реферат Методи рентгеноструктурного аналізу





(Що зазвичай завжди має місце, так як використовуються характеристичні промені К-серії) і містить у своєму складі кілька довжин хвиль, то для одного і того ж сімейства паралельних площин на рентгенограмі вийде відповідне число довколишніх кілець. Чи будемо ми повертати один кристал навколо напрямку первинного променя або розташуємо навколо цього променя безліч дрібних, різноорієнтованих кристаликів, картина відображення буде абсолютно однаковою. У цьому випадку різні положення кристаликів підлогу і кристалічного зразка будуть як би відповідати певним положенням що повертається нами кристала - ця ідея і покладена в основу методу порошків.

Прагнення зафіксувати відбиття від площин під різними кутами призвело до застосування замість плоскої фотопластинки, що дозволяє вловлювати відображення в дуже обмеженому діапазоні кутів, вузької смужки фотоплівки, згорнутої у вигляді циліндра і майже цілком навколишнього зразок. При зйомці на таку плівку при перетині конусів дифракційних променів на плівці виходять неповні кільця (рис. 6), тобто ряд дуг, розташованих симетрично щодо центру.


В 

Рис. 6. Рентгенограма порошку


При малих кутах q отримувані лінії близькі до кіл, а для конуса з кутом 4q = 180 В° вони стають прямими. Для кутів q, великих 45 В°, лінії змінюють напрямок радіуса кривизни. Число ліній, які утворюються на рентгенограмі, залежить від структури кристалічної речовини і довжини хвилі застосовуваних променів. У разі складної структури і короткохвильового випромінювання число ліній може бути дуже велике.

Лінії рентгенограми мають різну інтенсивність і ширину. Інтенсивність цих ліній визначається числом і розташуванням атомів в елементарній комірці та їх розсіює здатністю, а розподіл інтенсивності вздовж самих ліній, тобто структура ліній (точкова, суцільна - рівномірне і нерівномірне почорніння уздовж ліній) залежить від розмірів окремих кристаликів і їх орієнтування. Якщо кристалики розташовані безладно, а їх розміри (лінійні) менше 0,01-0,002 мм , лінії на рентгенограмі виходять суцільними. Кристалики великого розміру дають на рентгенограмі лінії, що складаються з окремих точок, так як в цьому випадку число різних положень площин при тій же величині освітлюваної ділянки недостатньо для освіти безперервно зачерненной лінії.

Якщо окремі кристали, що утворюють полікрісталли, мають переважну орієнтування (холоднотягнутий дріт, прокатана смуга і т д.), то на лініях уздовж кільця виявляються характерні максимуми почорніння. Часто аналіз розташування цих максимумів дозволяє виявляти відповідні закономірності в орієнтуванні кристаликів полікристалічного речовини. Ширина ліній рентгенограми залежить від розмірів окремих кристаликів, діаметра зразка та поглинання в ньому рентгенівських променів. При дуже малих розмірах кристаликів від 10 -6 см. і менше лінії розширюються, причому чим менше розміри кристаликів, тим більше розширення ліній. ...


Назад | сторінка 5 з 7 | Наступна сторінка





Схожі реферати:

  • Реферат на тему: Різновиди ліній передачі електромагнітної енергії: коаксіальна лінія, полос ...
  • Реферат на тему: Проектування лінії зв'язку на базі мідних і волоконно-оптичних ліній зв ...
  • Реферат на тему: Фізичні основи кількісного рентгеноструктурного аналізу металів. Діфрактом ...
  • Реферат на тему: Поширення хвиль типу квазі-т в деяких типах багатопровідних мікрострічкових ...
  • Реферат на тему: Організація ділянки і ліній групового потокового виробництва