Теми рефератів
> Реферати > Курсові роботи > Звіти з практики > Курсові проекти > Питання та відповіді > Ессе > Доклади > Учбові матеріали > Контрольні роботи > Методички > Лекції > Твори > Підручники > Статті Контакти
Реферати, твори, дипломи, практика » Новые рефераты » Методи рентгеноструктурного аналізу

Реферат Методи рентгеноструктурного аналізу





Грунтуючись на цій залежності, по ширині інтерференційних ліній можна визначити середні розміри окремих кристаликів.


2L = 4R • q (1)


Відстань між відповідними симетричними, лініями на рентгенограмі визначається кутом при вершині конуса дифракційних променів і положенням плівки щодо досліджуваного зразка. Ці величини пов'язані наступним простим співвідношенням:

Відстань між симетричними лініями на рентгенограмі, як дуга кола, дорівнює радіусу окружності R , помноженому на відповідний центральний кут 4q, тобто кут при вершині конуса дифракційних променів. 2 L - відстань між симетричними лініями, виміряний по 'екваторіальній лілії рентгенограми; R - радіус циліндричної фотоплівки; q-кут ковзання (в радіанах).

Висловлюючи кут в градусах, отримаємо:


(2)

Вищевказана формула є однією з основних розрахункових формул, застосовуваних при розрахунку рентгенограм порошків. За цією формулою, знаючи радіус циліндричної плівки і відстань між лініями на рентгенограмі, можна визначити кут ковзання, а по ньому, використовуючи рівняння Вульфа-Брегга, відповідну відстань між площинами і періоди кристалічної решітки досліджуваної речовини.

Для обчислення періодів решітки зручно користуватися перетвореної формою рівняння Вульфа-Брегга, замінюючи в рівнянні міжплощинна відстань d , виражене через відповідні значення періодів решітки та індекси площин. В результаті отримаємо такі розрахункові рівняння:


для кубічних кристалів:

для тетрагональних кристалів:

для гексагональних кристалів:

для кристалів ромбічної системи:

Для відображень першого порядку (при n = 1) числа hkl у вказаних рівняннях відповідають індексам відображає площині. Для відображень вищих порядків ці числа будуть відрізнятися від індексів площині на деякий загальний множник, рівний порядку відображення, тобто виходять шляхом множення індексів відображає площині на порядок відображення. p> Аналіз наведених формул дозволяє зробити ряд практичних висновків.

1. Чим більше довжина хвилі застосовуваних променів, тим далі від центру розташовуються лінії, відповідні відображенням. від одних і тих же площин одного і того ж кристала. Правильність такого твердження випливає з того факту, що великим довжинах хвиль будуть відповідати великі кути ковзання, а при збільшенні останніх, згідно рівнянням (2), збільшується відстань між лініями на рентгенограмі. Таким чином, довжина хвилі застосовуваних променів є досить важливим фактором, визначальним побудова самої рентгенограми. Знімаючи рентгенограми з одного і того ж речовини на різних випромінюваннях, ми ніколи не отримаємо тотожною картини. Отримані рентгенограми будуть відрізнятися одна від іншої і по положенню ліній і за числом їх. На рентгенограмах, отриманих на випромінюванні з великими довжинами хвиль, число цих ліній буде менше, і,...


Назад | сторінка 6 з 7 | Наступна сторінка





Схожі реферати:

  • Реферат на тему: Рівняння стану рідин та кристалів
  • Реферат на тему: Рівняння лінії на площині
  • Реферат на тему: Опис, виклад, утворення кристалів і структура властивостей в області застос ...
  • Реферат на тему: Розрахунок радіальних підшипників ковзання зі зміщеними в площині роз'є ...
  • Реферат на тему: Управління товарними лініями і торговими марками