Рентгенівська емісійна спектроскопія (XES)
спектри утворюються при Електрон переходах з остовно або валентність рівнів на більш низьких по ЕНЕРГІЇ остовно вакансію, Попередньо Утворення збудлівім рентгенівськім віпромінюванням. У ході ЕКСПЕРИМЕНТ вімірюють інтенсівність и Енергію віпромінюваніх при ціх процесах рентгенівськіх квантів. Емісійні спектри, Які утворюються при переходах з однієї остовної орбіталі на іншу, несуть інформацію про зарядовими стан атома. Енергетичне положення піків рентгенівськіх емісійніх спектрів внутрішніх рівнів спріймає стан других атомів Тільки за участі валентної Оболонки досліджуваного атома ї неспрійнятліве до потенціалів Маделунга. Цю ж інформацію можна отріматі ї з аналізу сателітної структурованих ціх спектрів [10]. br/>
5. Рентгенівська абсорбційна спектроскопія (РАС або XAFS)
Даній метод є самим інформатівнім методом Вивчення Вакантні Електрон станів. Смороду утворюються при непружньому розсіюванні збудлівого рентгенівського віпромінювання на поглінаючому атомі ї несуть інформацію про парціальні Густиня Вакантні Електрон станів як до, так и за порогом іонізації згідно з Дипольна правилами відбору. У ході ЕКСПЕРИМЕНТ вімірюють інтенсівність рентгенівського поглинання перелогових від ЕНЕРГІЇ збудлівого віпромінювання. З аналізу ціх спектрів одержують як Структурним інформацію, аналізуючі енергетичне положення резонансів форми, так и інформацію про Електрон структуру, аналізуючі допорогових ї близьким тонку структуру спектрів, на Формування якіх вплівають як одноелектронні, так и багатоелектронні Механізми [19]. p align="justify"> ВАЖЛИВО методами Дослідження Електронної ї Атомної Будови крісталічніх и склоподібніх напівпровідніків є методи рентгенівської абсорбційної спектроскопії. Протяжна тонка структура (EXAFS) Дає Відомості про геометрію близького оточення поглінаючіх атомів. Пріпорогова структура (XANES) Дає додаткові Відомості про Цю геометрію [20], а такоже дані про Електрон Будовий вільніх станів у Смузі провідності Поблизу поверхні фермі. Оскількі Механізми, что формують XANES, складніше механізмів, что вплівають на EXAFS, для інтерпретації Xanes-стекол ВАЖЛИВО знаті Механізми, что візначають Цю структуру у відповідніх об'ємніх кристалах. p align="justify"> У Останнє десятиліття успішно розвівається група методик, что дозволяють одержуваті Структурним інформацію з аналізу форми спектрів рентгенівського поглинання. Під спектром рентгенівського поглинання розуміється залежність коефіцієнта поглинання рентгенівського віпромінювання в досліджуваному зразки від Довжина Хвилі падаючого віпромінювання.) Найпошіренішій Різновид такого методу - Exafs-спектроскопія [21]. Ее суть Полягає в аналізі протяжної тонкої структурованих рентгенівського поглинання. p align="justify"> Останнім годиною потужном методом Вивчення Електронної підсістемі ї локальної структури твердих тіл стало Дослідження блізької тонкої ...
