сті монохроматичного випромінювання.
Відомо пристрій безконтактного виміру температури (а.с. 1803747, МПК 5 G 01 J 5/60, 1987 г.), що містить оптичну систему, приймач випромінювання, дифференциатор, два амплітудних детектора, оптичний гетеродин, перестроюваний оптичний модулятор, пристрій змішання оптичних пучків, резонансний підсилювач і блок поділу.
Найбільш близьким до пропонованого є спектральний пірометр (US 4605314, МПК 4 G 01 J 5/24, 1986 р), що складається з електричного модуля і оптичного модуля, який містить передавальний блок, блок спектрального розкладання і блок детектора.
Недоліками відомих пристроїв є залежність вимірювань від кута напрямку на джерело випромінювання, так як при зміні цього кута змінюється положення зображення спектру випромінювання на поверхні детектора спектру випромінювання.
Завданням винаходу є підвищення точності вимірювань при зміні кута напрямку на джерело випромінювання.
Рішення завдання досягається тим, що в пристрої безконтактного виміру температури, що містить оптичну систему, на оптичній осі якої розташований блок спектрального розкладання, що формує зображення спектра випромінювання на поверхні детектора, вихід якого з'єднаний з процесорним блоком, детектор виконаний у вигляді матриці приймачів, межі якої перевищують можливі переміщення меж зображення спектру випромінювання, а вихід кожного з приймачів через детектор з'єднаний з відповідним входом процесорного блоку, виконаного з можливістю пошуку максимального значення вихідного сигналу приймача по матриці приймачів, можливістю визначення максимального значення похідною вихідних сигналів приймачів по матриці приймачів і можливістю обчислення температури по відношенню максимального значення похідною вихідних сигналів по матриці приймачів до максимального значення вихідного сигналу приймача по матриці приймачів з урахуванням коефіцієнта пропорційності.
Технічний результат полягає в тому, що точність вимірювання температури підвищується за рахунок інваріантності пристрої до динамічного зміни кута напрямку на джерело випромінювання.
Структурна схема пристрою представлена ??на фіг.1, принцип роботи пояснений на фіг.2.
Пристрій містить оптичну систему 1, блок 2 спектрального розкладання, матрицю 3 приймачів і процесорний блок 4.
Пристрій працює наступним чином. При переміщенні джерела 5 випромінювання (фіг. 2) кут напрямку на джерело випромінювання змінюється і зображення спектру випромінювання переміщається по поверхні матриці приймачів. Однак це не призводить, як в прототипі, до переміщення центру ваги спектра і відповідної помилку вимірювань, тому приймачі приємний матриці не співвіднесені з довжинами хвиль спектру випромінювання. Допомогою процесорного блоку проводиться сканування сигналів всіх приймачів і виявляється лише значення максимального сигналу незалежно від топологічного розташування приймача в приймальні матриці. Аналогічно знаходиться максимальне значення похідної при послідовному переборі сигналів приймачів по всій приймальні матриці. У процесорному блоці 4 реалізується відомий (наприклад, з аналогів) алгоритм для обчислення температури по відношенню максимального значення похідною вихідних сигналів по матриці приймачів до максимального значення вихідного сигналу приймача по матриці приймачів з урахуванням коефіцієнта пропорційності. Таким чином забезпечується інваріантність вимірювання температури до динамічного зміни кута напрямку на джерело випромінювання.
Елементи пристрої можуть бути виконані з типових модулів і на елементній базі, застосовуваних у вимірювальній техніці та метрології. Конструктивне виконання блоків 1 і 2 може збігатися з аналогічними блоками прототипу. Конструкції блоків 3 і 4 очевидні з рівня техніки.
Додаток А4
Патент 7535128 (US) Автори: Wang, Dong (Tokyo, JP) Yamamoto, Akihisa (Tokyo, JP)
Temperature detectorOF THE INVENTION present invention relates to a temperature detector for detecting the temperature of a chip on which a semiconductor switching device or devices are formed, and more particularly to a temperature detector that can avoid outputting erroneous temperature signals during the switching operation of the semiconductor switching device. ART switching devices such as IGBTs (Insulated Gate Bipolar Transistors) will be thermally damaged if they are heated to excessive temperature due to high current operation. To prevent this, a temperature detector is used to detect the temperature of the chip.. 10 is a diagram showing the configuration of a conventional temperature detector (see, eg, Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2000-307403). Referring to the figure, a temperature sensing diode 13 is for...
