Теми рефератів
> Реферати > Курсові роботи > Звіти з практики > Курсові проекти > Питання та відповіді > Ессе > Доклади > Учбові матеріали > Контрольні роботи > Методички > Лекції > Твори > Підручники > Статті Контакти
Реферати, твори, дипломи, практика » Курсовые обзорные » Моніторинг атмосферного повітря на території впливу заводу ім. Малишева

Реферат Моніторинг атмосферного повітря на території впливу заводу ім. Малишева





ництво.

-Механічне виробництво: радіатори, трубопроводи, штуцери, пружини, вали, втулки, осі, шестерні, болти, гайки, гумотехнічні вироби, інструмент.


Принципи технології


На вхід технології надходять пластини, званими підкладками. Склад матеріалу підкладок, кристалічна структура (аж до міжатомних відстаней в підкладках для сучасних процесорів) і кристалографічна орієнтація суворо контролюються. У ході технологічного процесу в приповерхневому шарі напівпровідникового матеріалу, що є підкладкою або нанесеного на підкладку, створюють області з різним типом або величиною провідності, обумовленої в кінцевому рахунку різною концентрацією донорних і акцепторних домішок, а також матеріалом шару. Поверх шару напівпровідникового матеріалу, з використанням в потрібних місцях прошарків діелектричного матеріалу, наносяться шари проводить матеріалу, що утворює контактні площадки і необхідні з'єднання між областями. Області і шари провідника, напівпровідника і діелектрика в сукупності утворюють структуру напівпровідникового приладу або інтегральної мікросхеми.

Особливість планарною технології полягає в тому, щоб після завершення кожної технологічної операції відновлюється плоска (планарная) форма поверхні пластини, що дозволяє створювати досить складну структуру, використовуючи кінцевий набір технологічних операцій.

Планарная технологія забезпечує можливість одночасного виготовлення в єдиному технологічному процесі величезного числа дискретних напівпровідникових приладів або інтегральних мікросхем на одній підкладці, що дозволяє істотно знизити їх вартість. Також у разі виготовлення на одній пластині ідентичних приладів параметри всіх приладів виявляються близькими. Обмежувачем є тільки площа підкладки, тому діаметр підкладок у міру розвитку технологій виробництва підкладок прагнуть збільшувати.

Для контролю якості виконання проміжних операцій на підкладці, як правило, виділяють декілька малих областей (зазвичай в центрі і на периферії), на яких в ході штатного технологічного процесу формуються тестові провідні доріжки і елементарні прилади (конденсатори, діоди, транзистори і т.п.). У цих же областях формують контактні площадки відносно великої площі для тестування придатності пластин перед скрабування (поділом на окремі прилади). Для суміщення зображень при фотолітографії також у спеціально виділеної області формуються знаки суміщення, подібні тим, які можна зустріти на багатобарвної друкарської продукції.


Основні технологічні операції (літографія)


Основні технологічні операції, використовувані в планарної технології, засновані на процесі літографії: використовуються електронна літографія, іонна літографія, що можуть бути сканірующмі і проекційними; фотолітографії здатна бути оптичної (стандартна О» = 310-450нм або в глибокому ультрафіолеті О» = 200-300нм) і рентгенівської (О» = 0,1-10Нм), які, у свою чергу, можуть бути контактними, безконтактними, на мікр...


Назад | сторінка 6 з 12 | Наступна сторінка





Схожі реферати:

  • Реферат на тему: Визначення норми витрат матеріалу на виріб і проектування технологічного пр ...
  • Реферат на тему: Обгрунтування вибору матеріалу для вимірювальних приладів
  • Реферат на тему: Вибір матеріалу і розробка технологічного процесу термічної обробки плашки ...
  • Реферат на тему: Вибір матеріалу, технології термообробки і обладнання для зірочок агломашин ...
  • Реферат на тему: Вибір матеріалу, технологічного процесу одержання заготовки і зміцнення шта ...