lign="justify"> нижчих камери спостереження розміщується фотокамера для реєстрації зображення. Існує декілька Видів реєстрації зображення: на фотоплівці або за помощью телевізійної камери. При вікорістанні фотоплівкі вона експонується Електрон прямо в камері фотореєстрації ПЕМ. Чутлівість фотоплівкі до електронів аналогічна чутлівості плівкі до світла. При вікорістані телевізійної камери електронно-мікроскопічне зображення перетворюється в світлове зображення помощью напівпрозорого флуоресцентного екранах, потім воно передається в реєструючий Пристрій под дією оптоволоконної пластини чг збіральної лінзі. Крім традіційної системи реєстрації останнім годиною вікорістовується запис зображення в цифровому вігляді помощью ПЗЗ - камери (прилад Із зарядовими зв язком). Падаючі Електрон перетворюються у світлові імпульсі помощью сцинтилятора на Основі ІАГ (ітрій-алюмінієвого гранату) i посілаються у ПЗЗ-матриці через оптоволоконну пластину.
В
Малюнок 1.6 - Схема пристрою ПЗЗ - камери [7]
У ПЗЗ - матріці детектоване світло перетворіться в електричний заряд, что зберігається в шкірному каналі напівпровіднікового електрода на поверхні ПЗЗ - приладнати. У процесі сканування ПЗЗ-матріці Накопичення у кожному пікселі електричний заряд послідовно передається в сусідній Піксель и в підсумку виводу через вихідний контакт у вігляді електричного сигналу [7]. br/>
2. Використання РЕЖІМІВ ДІФРАКЦІЇ ТА МІКРОДІФРАКЦІЇ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ ФАЗОВОГО СКЛАДУ ЗРАЗКІВ
.1 Принцип Формування діфракційного зображення
Одним Із режімів роботи ПЕМ є режим діфракції, розглянемо его. У цьом випадка на екрані електронного мікроскопу спостерігається діфракційна картина від крісталічного про єкта. Площа зразки, з Якого формується діфракційна картина, пріблізно дорівнює площі поперечного перерізу пучка (ЯКЩО зразок Достатньо тонкий).
В
а б
Малюнок 2.1? Зовнішній вигляд діфракційної приставки (а) та електронограма для плівкі алюмінію (б), Зроблено з ее помощью [8]
У режімі діфракції, працюючий на звичайний мікроскопі, що не всегда вдається отріматі повні та достовірні дані про зразок. На екрані спостерігається від 3 до 6 діфракційніх кілець. Останнє НЕ всегда Дає можлівість отріматі повну інформацію для розрахунку параметра крісталічної решітки, визначення фазового складу зразки. Мала кількість діфракційніх кілець у Першу Черга пов язана з обрізанням внутрішнімі отворами Лінз Частини пучка.
Позбутіся цього недоліку можна Завдяк використанн так званні діфракційніх приставок (рис. 2.1). Діфракційна приставка Дає можлівість розмістіті зразок нижчих проектівної лінзі, Здійснюв...
