ати нахил Зразки по відношенню до падаючого пучка, Проводити Дослідження в інтервалі температур зразки від -150 до 800 0 С [8].
В
Малюнок 2.2? Хід променів у колоні ПЕМ при работе у режімі мікродіфракції [8]:
- освітлювальна система, 2 - зразок; 3 - про єктивна лінза, 4 - задній фокальній площинах про єктівної лінзі ; 5 - площинах Першого проміжного зображення, предметна площинах проміжної лінзі (селекторної діафрагма); 6 - проміжна лінза; 7 - площини іншого проміжного зображення, предметна площинах проектівної лінзі; 8 - проективна лінза; 9 - фокальні площини проектівної лінзі; 10 - екран
Діфракція від вібраної области (мікродіфракція). При проходженні сфокусованого пучка електронів через крісталічній зразок відбувається розсіювання відповідно до закону Брега. Пучки, розсіюванні под малімі кутами (від <1 до 2 В°) Стосовно минаючи пучка, фокусуються об'єктивною лінзою, и формують діфракційну картину в задній фокальній площіні лінзі. Если проміжна ї проекційна лінзі сфальцьовані правильно, то збільшене зображення в задній фокальній площіні об'єктивної лінзі буде проектуваті на екран спостереження. У площинах Першого проміжного зображення можна такоже відвести проміжну діафрагму, что обмежує область, что Дає діфракцію. Проміжна селекторної діафрагма при діфракції від вібраної области дозволяє здобудуть діфракційну картину від невеликих областей зразки. Цею метод, назівається мікродіфракцією [4]. p align="justify"> Розглянемо Хід Променю у колоні мікроскопа Із трьохлінзовою системою Збільшення (рис. 2.2). На екрані буде спостерігається збільшена проективностей лінзою діфракційна картина від Зразки, отримай у задній фокальній площіні про єктівної лінзі. Відмітімо, что Апертурний діафрагма при цьом винна буті вилуч.
Мікродіфракційну картину можна отріматі коли оптичні сила проміжної лінзі зменшується до тихий ПІР, доки зображення у задній фокальній площінні про єктіва НЕ сфокусується у площіні зображення проміжної лінзі. Фактично проміжна лінза працює у режімі Нульовий збільшень [9].
Основними Джерелами спотворень при діфракції від вібраної ділянки є сферична аберація про єктівної лінзі та неправильна фокусування про єктіву. Селекторної діафрагма Дає можлівість вібрато ділянку для Дослідження з мінімальнімі розмірамі. Мінімальній діаметр селекторної діафрагмі складає 5 мкм.
.2 Результати експериментальних ДОСЛІДЖЕНЬ
ПЕМ Використовують у різніх Галузії науки и техніки. Однією Із сфер! Застосування цього приладнав є Дослідження то...
