езліч механізмів відмов и межа Нульовий відмов.
Нульові відмові: Факт, что нульові відмові HTOL випробувань обмежують статистичну вірогідність прогнозування інтенсівності відмов. Нульові відмові HTOL випробувань - недостатній Показник очікуваної інтенсівності відмов. Щоб здобудуть статистичну вірогідність, відмові повінні спостерігатіся [16].
Фахівці ФІРМИ Analog Devices уважають, что 1000 год випробувань при 125 ° С еквівалентно 10 Рокам при температурі 55 ° С.
Далі представлені дані по надійності виробів ФІРМИ Analog Devices. Дані взяті Із Сайт фірми Зі Звіту за надійності від 12.04.2012 року й представлені у вігляді таблиць результатів розрахунку інтенсівності відмов для різніх технологій при різній температурі.
Таблиця 3 - Технологія 0,25 мкм CMOS
T=55 ° С0.25um CMOS Life Test Data SummaryOverall Sample Size9427Qty. Fail0Equivalent Device Hrs. @ 55 deg C) 1358653213FIT Rate (60% CL, 55 deg C) 0.67MTTF (60% CL, 55 deg C) 1482776428FIT Rate (90% CL, 55 deg C) 1.69MTTF (90% CL, 55 deg C) 590056898Calculations assumes 0.7 e Activation EnergyT=125 ° С0.25um CMOS Life Test Data SummaryOverall Sample Size9427Qty. Fail0Equivalent Device Hrs. @ 125 deg C) 17495239FIT Rate (60% CL, 125 deg C) 52.37MTTF (60% CL, 125 deg C) 19093561FIT Rate (90% CL, 125 deg C) 131.61MTTF (90% CL, 125 deg C) 7598103Calculations assumes 0.7 e Activation Energy
Таблиця 4 - Технологія 65 нм CMOS
T=55 ° С65nm CMOS Life Test Data SummaryOverall Sample Size1246Qty. Fail0Equivalent Device Hrs. @ 55 deg C) 106566850FIT Rate (60% CL, 55 deg C) 8.6MTTF (60% CL, 55 deg C) 116302535FIT Rate (90% CL, 55 deg C) 21.61MTTF (90% CL, 55 deg C) 46281497Calculations assumes 0.7 e Activation EnergyT=125 ° С65nm CMOS Life Test Data SummaryOverall Sample Size1246Qty. Fail0Equivalent Device Hrs. @ 125 deg C) 1372250FIT Rate (60% CL, 125 deg C) 667.73MTTF (60% CL, 125 deg C) 1497615FIT Rate (90% CL, 125 deg C) 1677.96MTTF (90% CL, 125 deg C) 595962Calculations assumes 0.7 e Activation Energy
Інтенсівність відмов тут розраховувалася по Формулі: Failure Rate=XІ / (2 * N * H * At)
де: XІ - ікс квадрат Розподіл, значення Яке поклади від кількості відмов и довірчіх інтервалів; N - кількість тестувальніх зразків; H - година випробування; At - пріскорювальній фактор (Ea=0.7 e T=55 ° С); 125 ° C до 55 ° C, At=77; Device Hrs=N * H * At; MTTF=1 / Failure Rate; FIT=Failure Rate * 10 - 9
У работе [21] автор приводити таблиці значень XІ для різніх довірчіх інтервалів и числа відмов:
Таблиця 3 - Розподіл XІ
CL 60% CL 90% Число відмовЗначення XІЧісло відмовЗначення XІ01. 83302.514. 04517. 77926. 211210. 64538. 351313. 362410. 473415. 987512. 584518. 549614. 685621. 064716. 780723. 542818. 868825. 989920. 951928. 4121023. 0311030. 8131125. 1061133. 1961227. 1791235. 563
Візьмемо однаково кількість зразків (100 штук) виготовленя по різніх технологіях, віпробуємо їх у пліні 1000 годин при температурі 125С. У цьом випадка EDH=100 * 1000 * 77=77 * 10 5. При Нульовий відмовахІ=1.833 (для довірчіхінтервалів CL 60%), FR=XІ/2EDH, FIT=FR/10 - 9, FR=1,833 / 2 * 77 * 10 5=9 * 10 - 9 FIT=9.
Таблиця 4 - да...
