великою товщиною вимірюваного зразка т.к. чим більше товщина об'єкта тим ширше область генерації.
Ймовірно пропущені піки: 0.256, 27.450 keV
Кількість ітерацій=3
Еталон: SiO2 1-червня - тисячі дев'ятсот дев'яносто дев'ять 12:00 AM
F MgF2 1-червня - 1999 12:00 AMBi 1-червня - 1999 12:00 AMThO2 1-червня - 1999 12:00 AM
Таблиця 3
ЕлементВесовой% Атомний% O K5.4837.01F K2.0011.37Rb K5.086.41Bi L87.4445.20Th M0.010.00Ітогі100.00
Ці дані показали, що ця ділянка як і перший не має домішок гадолінію (Gd) і сурми (Sb) на поверхні, а отже даний зразок має не рівномірний розподіл домішок.
Отримані вище результати показую, що метод рентгеноспектрального мікроаналізу не придатний для дослідження зразків довільної товщини. Однак, провівши повторні вимірювання зразка в тих же ділянках, і виключаючи забрудненість камери зразка, а також схожість спектральних лінії, були отримані наступні дані. Які значно відрізняються від попередніх.
Ймовірно пропущені піки: 16.282, 27.950 keV
Кількість ітерацій=2
Еталон: Sb 1-червня - 1 999 12:00 AMGdF3 1-червня - 1 999 12:00 AMBi 1-червня - 1 999 12:00 AM
Таблиця 3
ЕлементВесовой% Атомний% Sb L3.935.42Gd L - 0.08-0.08Bi L117.9994.66Ітогі121.85
З урахуванням отриманих даних можна стверджувати, що даний метод дослідження досить добре оцінює елементне вміст елементів у зразку. Для демонстрації цього факту були перевірені і інші ділянки зразка. Щоб виключити випадкові збіги.
Після вимірювань зразка, використовуючи більш детальні настройки, були проведені вимірювання злитка складається з чистого гадолінію для більш детальної оцінки застосовності методу до дослідження зразків довільної товщини.
Пиків не пропущено
Кількість ітерацій=3
Еталон: Sb 1-червня - 1 999 12:00 AM
Gd GdF3 1-червня - 1 999 12:00 AMBi 1-червня - 1 999 12:00 AM
Таблиця 4
ЕлементВесовой% Атомний% Sb L1.542.12Gd L0.040.04Bi L121.8597.84Ітогі123.43
Ймовірно пропущений пік: 23.831 keV
Кількість ітерацій=2
Еталон: Sb 1-червня - 1 999 12:00 AMGdF3 1-червня - 1 999 12:00 AM
Bi Bi 1-червня - +1999 12:00 AM
Таблиця 5
ЕлементВесовой% Атомний% Sb L0.691.00Gd L0.020.02Bi L117.5699.02Ітогі118.24
Ймовірно пропущені піки: 1.760, 13.030, 14.635, 15.734, 16.675 keV
Кількість ітерацій=3
Еталон: CaCO3 1-червня - 1999 12:00 AM
O SiO2 1-червня - 1999 12:00 AMGe 1-червня - 1999 12:00 AM
Gd GdF3 1-червня - тисяча дев'ятсот дев'яносто дев'ять 12:00 AM
Таблиця 6
ЕлементВесовой% Атомний% C K2.7821.56O K4.0023.24Ge K0.060.07Gd L93.1655.13Ітогі100.00
Пиків не пропущено
Кількість ітерацій=3
Еталон: CaCO3 1-червня - 1999 12:00 AM
O SiO2 1-червня - 1999 12:00 AMSe 1-червня - 1999 12:00 AM
Gd GdF3 1-червня - тисяча дев'ятсот дев'яносто дев'ять 12:00 AM
Таблиця 7
ЕлементВесовой% Атомний% C K3.2326.30O K2.3714.47Se L0.871.08Gd L93.5358.15Ітогі100.00
Ймовірно пропущені піки: 1.775, 2.628 keV
Кількість ітерацій=3
Еталон: CaCO3 1-червня - 1999 12:00 AM
O SiO2 1-червня - 1999 12:00 AMSe 1-червня - 1999 12:00 AM
Gd GdF3 1-червня - тисяча дев'ятсот дев'яносто дев'ять 12:00 AM
Таблиця 8
ЕлементВесовой% Атомний% C K5.8535.14O K5.2723.76Se L0.820.74Gd L88.0640.36Ітогі100.00
Висновок
В даний час метод рентгеноструктурного мікроаналізу є самим об'ємним методом: дослідження плівок різних матеріалів і тонких об'єктів, а також картування зразків. Також цей метод застосовується в біології, геології, хімії і т.д. він дає найповніше опис структури зразків.
У процесі дослідження зразка методом рентгеноструктурного мікроаналізу за допомогою електронного мікроскопа EVO - 40. Було з'ясовано, що зі збільшенням товщини зразка, одержувані результати ставали все менш точними в результаті великої області генерації вип...
