Теми рефератів
> Реферати > Курсові роботи > Звіти з практики > Курсові проекти > Питання та відповіді > Ессе > Доклади > Учбові матеріали > Контрольні роботи > Методички > Лекції > Твори > Підручники > Статті Контакти
Реферати, твори, дипломи, практика » Новые рефераты » Побудова яркостной гістограми зображення зерен пилку, отриманих за допомогою РЕМ

Реферат Побудова яркостной гістограми зображення зерен пилку, отриманих за допомогою РЕМ





ртію, що складається їх тисяч діодів, якщо знайде хоча б один дефект в тестовому зразку. Потреба в сучасній продукції у сфері телекомунікації та електроніки також ставить перед виробниками та інженерами найскладніші завдання. Дефекти росту кристалів, нерівномірності покриттів, дисперсне забруднення, надлишкове напилення і крайові сколи - це лише деякі з часто зустрічаються помилок, які можуть призвести до мільйонів марно вироблених приладів, затримці виробництва і, в гіршому випадку, до втрачених контрактами.

Щоб уникнути цих помилок, необхідний найсуворіший контроль поверхні матеріалів та ключових властивостей приладів, що впливають на параметри функціонування. Для цього інженери-оптоелектроніки використовують ті ж методи, що застосовуються в напівпровідниковій і мікроелектронної промисловості, а також спеціальні методи, серед яких:

неавтоматизована метрологія та спекл-метрологія

оптична интерферометрия

дифракційний аналіз

стереомікроскопів

голографічна интерферометрия і інвертована світлова мікроскопія

Так як кордони оптоелектронних технологій розширюються до небачених раніше меж, використання цих та інших систем мікроскопії стає все більш важливим для мінімізації ймовірності виготовлення зіпсованих партій продукції, оптимізації продуктивності праці та підвищення доходів.

Основні методи і прилади:  стереомікроскопів, спостереження в прохідному і відбитому світлі, інвертовані мікроскопи, відеоізмерітельние системи, цифрові камери, програмне забезпечення NIS Elements. (Малюнок 7)


Малюнок 7 SMZ645/660


Стереомікроскопи Nikon SMZ645 і 660 створені спеціально для користувачів, яким необхідні розширені функції і збільшена продуктивність при невисокій вартості приладів. Запатентована конструкція мікроскопів Nikon три «А» (Airtight, Anti-mold and Anti-electrostatic - Герметичність, протигрибкова захист і захист від статичної електрики) дозволяє забути про проблеми при роботі в будь-яких умовах.



Висновок


Сучасні оптичні прилади грають важливу роль в народному господарстві, служать основою науково - технічного прогресу. Оптичні і прецизійні методи вимірювання та прилади як найбільш точні застосовуються в багатьох галузях науки і виробництва - в більшості сучасних високих технологій, в ядерній і космічній техніці, лазерних технологіях, в машинобудуванні та приладобудуванні для контролю найбільш точних деталей, при складанні прецизійних вузлів, для наукових досліджень в галузі фізики, хімії, медицини, біології і так далі.

Значну і все зростаючу роль відіграють прецизійні вимірювання також і в більшості областей природно - наукових та науково - технічних досліджень, в технічній, медичної і біологічної практиці.

Успішна робота сучасного дослідника в оптичній вимірювальної лабораторії залежить не тільки від хорошого оснащеності сучасними приладами, а й від знання та застосування теоретичних і технічних аспектів сучасних прецизійних вимірювань, їх можливостей і перспектив.



Список використаних джерел


1. Смирнова І.А., Стубарев Д.В., Толстіков А.С. Оптимізація вимірювальних систем / / Вісник СМДА.- Ново...


Назад | сторінка 10 з 11 | Наступна сторінка





Схожі реферати:

  • Реферат на тему: Методи та прилади з вимірювання нерівності поверхні дорожнього покриття
  • Реферат на тему: Нові прилади і методи контролю якості в машинобудуванні
  • Реферат на тему: Електровимірювальні прилади і методи вимірювання
  • Реферат на тему: Основні прилади і методи контролю
  • Реферат на тему: Електронні вимірювальні прилади й методи вимірювань