лася.
До характеристик чутливості СІ до впливає чинників відносять функції впливу. Функція впливу - це залежність зміни метрологічних характеристик СІ від зміни впливає чинника або сукупності факторів, що впливають. Найбільш істотно від впливових факторів (зовнішніх впливів) залежать систематичні похибки засобу вимірювань. Зміни систематичної похибки, викликані наявністю впливових факторів, називають додатковими похибками . Додаткову похибка виражають в одиницях вимірюваної фізичної величини, в частках основної або систематичної похибки.
Динамічні характеристики сві - це характеристики динамічних властивостей сві, що відображають залежність вихідного сигналу від мінливого у часі вхідного сигналу. До них відносять: перехідну, імпульсну, амплітудно-фазову, сукупність амплітудно-частотної і фазо-частотної характеристики .
Перехідна функція показує , як змінюється вихідний сигнал при зміні стрибком вхідного.
Отклик засоби вимірювань на одиничний імпульс називається імпульсною характеристикою.
Ампітудно - фазова характеристика - це побудована в полярній системі координат залежність амплітуди і зсуву фаз між вихідним і вхідним сигналом від частоти.
Амплітудно-частотна характеристика - це залежність амплітуди від частоти вхідного сигналу.
Фазо - частотна характеристика - залежність кута зсуву фаз між вихідним і вхідним сигналами від частоти.
Зазвичай для кожного засобу вимірювань динамічні характеристики регламентують завданням номінальних характеристик. Максимальне відхилення реальних динамічних характеристик від номінальних розглядають як динамічну похибку.
Як правило, засіб вимірювань можна вважати лінійним динамічним об'єктом, для якого справедливий принцип суперпозиції. Похибка такого засобу вимірів можна представити у вигляді суми статичної та динамічної складових. p align="justify"> Прикладами метрологічних характеристик, що відносяться до п'ятої групи, є: вхідний і вихідний імпеданс у електричних величин , коефіцієнт відбиття від входу і виходу в високочастотних лініях . Чим інтенсивніше взаємодія засоби вимірювань з об'єктами і пристроями, з'єднаними з входом і виходом СІ, тим значніше слідства такої взаємодії.
Для м...
