ного кристала d001 одно параметру решітки а.
Рис. 4п. Схематичне зображення електронограми
. По таблиці міжплощинних відстаней для передбачуваних фазових складових зразка знайдемо значення dтабл (табл. 1.6) і зіставимо з dексп, визначивши передбачувані індекси (hk?) Для даного дифракційної плями (табл. 1.7).
Таблиця 1.6 межплоскостним відстані для Ni3Al
hk? 100110111200210220d, нм0, 3560,2520,2060,2000,1590,126
Таблиця 1.7 Зіставлення міжплощинних відстаней, визначених за електронограмі, з табличними
R, ммdекспdтаблhk? ОА=12 ОВ=10,5 ОС=10,51,78 2,06 2,061,78 2,06 2,06200 111 111
. Кут між двома площинами з даними індексами в прямому просторі і напрямами від центральної плями до двох дифракційним плямам з цими ж індексами hk? збігаються.
Рис. 1.46. Вимірювання кутів між напрямками на електронограмі
Кут між напрямками на електронограмі можна виміряти транспортиром (рис. 1.46) і порівняти з таблицею кутів між напрямками в кристалах (табл. 1.8). Таким чином, можна визначити, до якого сімейства площин {hk?} Відноситься дане дифракційна пляма. Термін «сімейство площин» має на увазі всі можливі поєднання індексів (включаючи і мінусові), а також використання цілочисельного множника. Наприклад, до одного сімейства відносяться індекси 123, 321, 213, 426, 246, 321, 642 і т.д.
Конкретні індекси дифракційного відбиття підбираються за наступними правилами:
рефлекси, що знаходяться по різні сторони від центрального, мають
індекси протилежного знака;
на електронограмі не можуть одночасно бути присутнім два плями з однаковими індексами;
індекси підкоряються правилу векторного додавання.
За індексам будь-яких двох плям (h1k1? 1) і (h2k2? 2) можна обчислити індекси площині зворотного простору (uvw), до якої вони належать, тим самим визначити індекси осі зони в прямому просторі
[uvw]: u=k1? 2 - k2? 1; v =? 1h2 -? 2h1; w=h1k2 - h2k1.
Бібліографічний список
l Goldstein. J.I. and H Yakuwitz. eds .. 1979. practicai Scanning Electron Microscop) (Plenum. New).
Hearle J.W.S. JT Sparrow and PM Cross 1972 The Use of Scanning Electron Microscopy (Pengamon Press Oxford)
Heywood. V.H. ed. 1971 Scanning Electron Micrscopy - Sistematic and Evolutionarv Applications (Academic. London)
. Oatley, CW, 1972, The Scanning Electron Microscope (Cambridge University Press).
. Hillmer. T. 1979b, Pract Metallogr 16. 521
. Hillmer. Т., 1979a. Pract Metallogr.16. 476
. Newbury, D.E. and H. Yakowitz. 1977a. in: Practical Scanning Electron Microscopy, eds. J.I. Goldstiein and H. Yakowitz (Plenum. New York) ch. 6. P. 211.
. Yazawich, HS Weber and H. Warlimont, 1977, Pract. Metallogr. 14, 553.
. Madeski. A.. 1980. Pract Metallogr. 17. 598
FRemunt. P.. J. Svejcar and J Varhanicek. 1980. Pract. ...
