Metallogr 17. 497
. Hun-De Z., and W, Jino-Yun. 1980. Pract Metallogr. 17 608.
. Hirch, P.B., A. Howie, R.B. Nicholson, D.W. Pahsley and M.J. Whelan, 1977, Electron Microscopy of This Films (Krieger, huntingtom, NY)
. Hren, J.J. 1979, in: Introduction to Analytical Electron Microscopy, eds, JJ Hren, J.I. Golstein and D.S. Joy (plenum. Ne York)
. thompson-Russell, KC, and JW Edington, 1977, in: Practical Electron Microscopy in Materials Science. vol 5 (Mac Millan. London)
. Tighe. N.J. 1976, in: Electron Microscopy in Mineralogy, ed. H.R Weak (Springer, Berlin).
. Spence, JCH, 1081, Experimental High-Resolution Electron Microscopy (Clarendon press, Oxford).
. Thomas, G., and M.J. Goringe, 1979. Transmission Electron Microscopy of Materials (Wiley, New York).
18. Акашев Л.А., Кононенко В.І. Еліпсометрія та електронна структура рідких металів / / Спектроскопічні методи в дослідженні поверхні аморфних і рідких металів: тематич. СБ научн. тр. / Челяб. політехн, ін-т. Челябінськ: ЧПІ, 1990. С.62-76.
. Крокстон К. Фізика рідкого стану. Пер.с англ. М.: Світ, 1978. 400 с.
. Scottw В., Britten Т., Frank N. Distribution of atoms the surface of liquid mercury / / Nature. 1986. V. 321, № 6071. P.685-687.
. Ашхотов О.Г., Шебзухов А.А., Хокон Х.Б. Дослідження поверхні рідких металів і сплавів методом електронної Оже-спектроскопії / / ДАН СРСР. 1984. Т.274, № 6. С.1349-1352.
. Трапезников В.А., Шабанова І.М. Рентгеноелектронная спектроскопія надтонких поверхневих шарів конденсованих систем. М.: Наука, 1988. 200 с.
. Лавров А.В., Спиридонов М.А., Попель СІ. Дослідження будови поверхні розплавів методом дифракції швидких електронів / / Розплави. 1988. Т. 2, № 2. С.115-117.
. Ichicava Т. Structure amomaly of liquid Sn layers adsorbed on Ge (111) surfaces / / Sol. State Commun. 1987. V. 63, № 12. P.1173-1178.
. Ichicava T. On the surface of monolayer liquid Pb on Ge (111) surfaces / / Sol. State Commun. 1984. V. 49, № 1. P.59-64.
. Lu B.S., Rice S.A. Determination of the density profile in the liquid-vapour interface near the triple point / / J. Chem. Phys. 1978. V.68, № 12. P.5558-5567.
. Sluis D., Rice S.A. An X-ray reflection study of the liquidvapour interface of Cs / / J.Chem. Phys. 1983. V.79. № І. P.5658-5672.
. A.c. N 1323931. Пристрій для дослідження структури розплавів / А.В. Лавров, М.А. Спиридонов, СІ. Попель (СРСР). Опубл. в Б.І. 1987. № 26. МКІ 4. G 01. С.30. № 23/20.
