нньому доступі (рис. 18).
Малюнок 18 - Процес контролю за допомогою дефектоскопа дАмі-С
дАмі-С забезпечує виявлення зони порушення з'єднань між обшивками і внутрішніми елементами для наступних конструкцій:
стільникових конструкцій з неметалевими обшивками і сотами з поліамідної паперу або інших матеріалів;
стільникових конструкцій з металевими обшивками (у тому числі перфорованими) і сотами з алюмінієвих або інших сплавів;
конструкцій з різними наповнювачами, в тому числі типу ТЗП;
об'єктів з грубою стільниковою структурою, коли важко виявити різницю між дефектними і бездефектними ділянками об'єкта.
Таблиця 10 - Види дефектів, що виявляються акустичним імпедансним методом
Контроль відшарувань в стільникових агрегатах літака
Механізм впливу вологи на властивості міцності ПКМ можна простежити за результатами послідовних перевірок стільникового клина елерона літака. На малюнках показані послідовно результати раніше виконаних перевірок акустичним імпедансним методом - на наявність води і відшарування (ріс.19,20).
Малюнок 19 - Елерон правий. Контроль відшарувань і води в стільникових конструкціях
Малюнок 20 - Бічна поверхня елерона з тріщиною в місці відшарування
Як видно, на елероні спочатку з'явилася зона з водою, яка в кінцевому підсумку привела до появи відшарування площею ~ 1800 кв. см.
Наявність відшарувань в стільникових конструкціях пов'язано, насамперед, з попаданням води всередину стільникового агрегату. Потрапила всередину стільникових агрегатів вода знижує міцність клейових з'єднань, викликає руйнування клейового шару і стільникового заповнювача, призводить до збільшення маси і зміни центрування агрегатів, відшарування обшивок від сот, а при замерзанні води - до відриву обшивки від стільникового заповнювача, або руйнування агрегату в польоті.
Конструктивні особливості стільникового клина керма напряму (РН) літака і погана якість склейки так само може призвести до відшарування (рис.21).
Малюнок 21 - Кермо напряму. Стільниковий клин.
Керівництвом з технічної експлуатації літака передбачений періодичний акустичний імпедансний контроль стільникових конструкцій літака на наявність відшарувань обшивки від сот. Контроль здійснюється дефектоскопом дАмі-С з використанням безеталонного настройки.
Необхідність введення безеталонного настройки обумовлена ??застосуванням на літаку передбаченої конструкцією змінної товщини обшивки на більшості стільникових агрегатів. Оскільки принцип дії імпедансного дефектоскопа заснований на реєстрації зміни механічного імпедансу обшивки в місці наявності дефекту - відшарування, розшарування або непроклея, то зміна товщини обшивки також призводить до такого ж зміни механічного імпедансу, що і дефект. Тому при контролі таких обшивок оператор змушений перебудовувати режим роботи дефектоскопа при контролі ділянок з різною товщиною обшивки. Застосування при цьому спеціальних контрольних зразків стільникових конструкцій для налаштування дефектоскопа практично виключено, оскільки їх загальна кількість може досягати кілька сот штук. Метод безеталонного настройки дозволяє відмовитися від контрольних зразків.
Суть методу безеталонного настройки полягає в наступному. Оператор вибирає на поверхні агрегату ділянку, що не має явно виражених дефектів (спучування, вм'ятини, забоїни і ін.) І розмічає на ньому 3 точки на відстані 100-150мм один від одного, що не лежать на одній прямій (рис.22).
Малюнок 22 - Схема «безеталлонной настройки» дефектоскопа дАмі-С
Потім оператор послідовно встановлює перетворювач дефектоскопа в обрані точки і стежить за показаннями його стрілочного індикатора (СІД). Якщо показання СІД приладу хоча б в одній з точок настройки відрізняються більш, ніж на 20?кА, вибирається інша зона настройки.
При відсутності необхідної інформації про розташування та розмірах зон змінної товщини обшивки контрольованого об'єкту можна зробити розбивку контрольованої поверхні на окремі зони по максимальним і мінімальним толщинам, матеріалом, розмірами осередку стільникового заповнювача і т.д., таким чином:
проводиться настройка дефектоскопа з перетворювачем РСП в центрі контрольованої поверхні;
переміщаючи перетворювач з центру зони налаштування до країв контрольованої поверхні, стежать за показаннями СІД. Якщо в якомусь із напрямків показання СІД змінюються більш, ніж на 20?кА (в більшу або ...
