зок. p> Пристрій приладу і методика випробування
Для визначення мікротвердості використовують прилади типу ПМТ ~ 3 (рис.6.8 а). На чавунному підставі 1 приладу закріплена колона 3 з різьбленням, а на ній - кронштейн з мікроскопом і навантажуючим пристроєм. Для установки кронштейна на необхідній висоті служить гайка 4 н стопорний гвинт. Мікроскоп складається з тубуса 8, окуляр-мікрометра 7, змінного об'єктиву 10 н освітлювального пристрою 9. Для грубої наведення на різкість мікроскоп переміщається по висоті відносно кронштейна гвинтом б, пов'язаним з рейковим пристроєм. Перед обертанням гвинта необхідно послабити стопорний гвинт-важіль, розташований на правій частині кронштейна Для тонкого наводкіна різниця служить мікрометричний гвинт 5. До нижньої частини тубусамікроскопа прикріплений механізм навантажування 14 (рис.6.8 б). br/>
В В
Грузики у вигляді дисків з прорізами надягають на стрижень 17, в нажних кінці якого кріпиться оправлення з алмазним нндентором 16. Стержень підвішений до кронштейну на двох плоских пружинах 20 і 21. При повороті рукоятки 18 проти годинникової стрілки (на себе) стрижень звільняється і переміщається під дією вантажів вниз, вдавлюючи інден-тор в поверхню зразка Предметний столик 11 може переміщатися в двох взаємно перпендикулярних напрямках за допомогою мікрометричних гвинтів 12 н 13 і повертатися рукояткою 2 навколо своєї осі на 180 В°, забезпечуючи переміщення зони дослідження під вістрі алмазного нндентора і зворотного переміщення під мікроскоп для заміру довжини діагоналі відбитка Для забезпечення точного виміру мікротвердості прилад повинен бути ретельно от'юстіровать. Завдання юстування - точне суміщення оптичної осі з віссю навантаження при повороті предметного столика на 180 В° і правильна установка по висоті механізму навантажування. br/>
В
При центровке (рис.6.9) необхідно домогтися, щоб відбиток знаходився саме на тому місці, яке вибране під мікроскопом на перехресті ниток окуляр-мікрометра При виборі поля здвоєний штрих повинен знаходитися проти цифри 4 нерухомої шкали (рис .6.9 а) окуляра, а нуль шкали барабанчика - точно проти рнскн. Потім після повороту предметного столика наносять відбиток. Після повернення предметного столика з шліфом у вихідне положення, якщо відбиток вийшов осторонь від перехрестя (рис.6.9 б), то центрувальними гвинтами 15 переміщують перехрестя доти, поки воно не співпаде з центром отриманого відбитка (рис.6.9 в), Потім перекрестие мікрометричними гвинтами столика переміщують на нове місце і, якщо знову зроблений відбиток не співпадає е перехрестям, операції центрування повторюють спочатку Операції центрування слід виконувати і в процесі роботи. Юстирування по висоті здійснюється гайкою 19. p align="justify"> При цьому необхідно домогтися такого положення, щоб без навантаження на поверхні шліфа {Al або Sп) не з'являлося відбитка, а при навантаженні 0,005 Н з'яв...
