Теми рефератів
> Реферати > Курсові роботи > Звіти з практики > Курсові проекти > Питання та відповіді > Ессе > Доклади > Учбові матеріали > Контрольні роботи > Методички > Лекції > Твори > Підручники > Статті Контакти
Реферати, твори, дипломи, практика » Курсовые обзорные » Розробка тестопригодності мікропроцесорної системи на базі мікроконтролера

Реферат Розробка тестопригодності мікропроцесорної системи на базі мікроконтролера





осхем великої та надвеликої ступеня інтеграції методами функціонального контролю і параметричних вимірів. p align="justify"> Перевага і гідності таких пристроїв полягає в достовірності результатів тестів, і їх швидкодії. Такі тестери мають лаконічний інтуїтивно-зрозумілий інтерфейс, графічну і текстову інтерпретацію тестових впливів і результатів вимірювання, що дозволяє легко розібратися з інструкцією з використання, тому вони дуже прості. Вони невеликі за габаритами і такі пристрої не вимагають великої кількості витрат по енергоресурсах. p align="justify"> Якщо брати в порівняння розроблювальний пристрій, побудоване на мікроконтролері, аналогічними, розробленими на логічних елементах, то можна побачити ряд переваг:

) пристрій, побудоване на мікроконтролері, має можливість тестувати більша кількість різних видів і типів мікросхем. Пристрій, побудоване на мікроконтролері, має можливість швидкого переналагодження на інші інтегральні мікросхеми. p align="justify">) один мікроконтролер замінює декілька логічних елементів. Що зменшує кількість необхідних елементів і зменшує габарити пристрою. p align="justify">) пристрій на мікроконтролері дозволяє отримати більше інформації про несправності мікросхеми.

) при виході з ладу мікроконтролера, його легше замінити ніж, перепоювати деяку кількість логічних елементів.

На малюнку 1.1.1 представлений тестер цифрових мікросхем LEAPER-1.



В 









Малюнок 1.1.1 - Тестер цифрових мікросхем LEAPER-1


LEAPER-1 - універсальний тестер. Він використовується для вимірювання постійного, змінного напруги і опору, характеризується точністю, зручністю звернення і економною витратою електроенергії. Завдяки використанню батарей і легкому підключенню LEAPER-1 дозволяє працювати як зі стаціонарними комп'ютерами, так і з комп'ютерами типу NOTEBOOK. Комбінований електровимірювальний прилад дозволяє визначити всі необхідні параметри швидко і без залучення додаткового обладнання. p align="justify"> Прилад LEAPER-1 має додатковий захист від перевантажень, що підвищує його надійність. Яскравий дисплей виключить можливість неправильного прочитання даних. У моделі LEAPER-1 зрозумілий інтерфейс, її зручно використовувати в роботі при виявленні несправностей електричного кола. Модель компактна, зручна в перенесенні і використанні, оскільки прилади даного класу використовуються в різних умовах. p align="justify"> Таким чином, тестер LEAPER-1 - оптимальний інструмент для проведення дослідження перед ремонтними та іншими роботами подібного типу. Його швидкодія і доступне управління дозволяють збільшити швидкість роботи з приладом. p align="justify"> Особливості тестера LEAPER-1:

В· Використовується для перевірки мікросхем TTL 54/74 (серії 155, 555, 1533);

Назад | сторінка 2 з 15 | Наступна сторінка





Схожі реферати:

  • Реферат на тему: Проектування цифрових пристроїв з використанням цифрових мікросхем малої і ...
  • Реферат на тему: Цифрове арифметико-логічний пристрій, що дозволяє виконувати операції відні ...
  • Реферат на тему: Пристрій світловіх ефектів на мікроконтролері сімейства PIC
  • Реферат на тему: Дослідження логічних елементів НЕ, І, АБО, І-НЕ, АБО-НЕ
  • Реферат на тему: Система вимірювання температури, яка дозволяє вимірювати температуру в межа ...