Введення
Курсовий проект - самостійна комплексна робота, виконувана учням на заключному етапі вивчення дисципліни В«Технічна експлуатація та ремонт ЕВСВ».
Темою даного курсового проектування є: В«Розробка тестопригодності мікропроцесорної системи на базі мікроконтролераВ».
Метою курсового проектування є застосування теоретичних знань і практичних навичок отриманих при вивченні дисципліни ТЕ ЕВС, а також формування практичних навичок щодо вибору параметрів для діагностики, побудови алгоритму пошуку несправностей, вибору необхідний апаратури контролю, формування знань основних теоретичних положень, необхідних для вирішення питань, пов'язаних з розробкою, ефективної експлуатацією, обслуговуванням та ремонтом електронних обчислювальних систем.
Основні завдання курсового проектування:
) Розробити Мікроконтроллерні систему, що виконує функціональний контроль цифрових інтегральних мікросхем.
2) Дати технічну характеристику об'єкта діагностування з описом принципу його функціонування на підставі технічного опису паспорта та принципової схеми.
3) Розробити діагностичні тести для заданої логічної ІМС.
) Розробити алгоритм функціонування мікропроцесорної системи і по ньому написати програму на мові Асемблер.
) Розробити алгоритм пошуку та усунення несправності в мікроконтролерних систем.
) Розробити технологічні інструкції з експлуатації мікроконтролерних систем.
7) Дати рекомендації щодо застосування методів енерго-і матеріалосбереженія при виробництві та використанні мікроконтролерних систем, заходів з охорони праці при експлуатації та виробництві мікроконтролерних систем.
Виконання завдань курсового проектування передбачає використання знань, як з лекційного матеріалу, так і з літературних джерел, що вивчаються самостійно.
1. Розрахунково-проектувальний розділ
.1 Призначення і область застосування проектованої ІМС
Розроблюване пристрій призначений для тестування центрових мікросхем за принципом функціонального контролю.
Цей пристрій використовується на виробництві для вимірювання та дослідження мікросхем при верифікації нових проектів, контролі на серійному виробництві, на вхідному контролі. Воно також використовується при проведенні додаткових бракувальної випробувань і сертифікації мікросхем високої складності, а також для комплексної автоматизованої перевірки мікр...
