ня площини деталі щодо заданої прямої або площини здійснюється трьома юстіровочная гвинтами.
2. Поступальне переміщення деталі в певному напрямку здійснюють однією або двома парами співвісних і спрямованих один проти одного юстирувальних гвинтів. При двох парах співвісних гвинтів осі їх повинні бути паралельні. Поряд з поступальним переміщенням деталі (вузла) можна виробляти її поворот.
. Поступальне переміщення деталі в двох напрямках, щоб встановити одну з її точок (А) в заданому положенні, здійснюється двома парами співвісних юстирувальних гвинтів.
Розглянуті основні принципи повинні враховуватися при конструюванні вимірювальних приладів. Їх застосування дозволяє по можливості забезпечити незалежність вихідних показників приладу від точності виготовлення його деталей і вузлів.
Для повного вирішення юстіровочная завдання необхідно виконати наступне:
1. На підставі вивчення пристрою приладу, принципу дії, його призначення, умов роботи і технічних вимог строго сформулювати завдання юстування, тобто виділити ті метрологічесукіе характеристики приладу, на які можуть впливати помилки окремих деталей і положення вузлів, виявити конструктивні та юстувальні бази деталей вузлів і приладу в цілому і встановити вимоги до точності їх взаімооріентірованності.
2. Розглянути можливість регулювання основних оптичних і механічних деталей та вузлів; знайти величини їх дійсних зсувів і поворотів, що впливають на дані властивості і характеристики приладу; вибрати вид збірки, розглянути можливість складання вузла або всього приладу за принципом взаємозамінності. При неминучості використання збірки з компенсацією намітити мінімальне, але достатнє число юстирувальних регулювань незалежного дії.
. Запропонувати спосіб повірки, що дозволяє прямо або побічно виявити похибки, що підлягають усуненню в процесі юстирування.
. Розробити методику юстування, тобто визначити інструмент або додаткові кошти і намітити послідовність виконання операцій для досягнення заданої точності.
. Передбачити надійну фіксацію юстирувальних деталей і вузлів.
. Передбачити можливість збереження, підтримки або періодичного відновлення робочого стану приладу в умовах експлуатації.
. Класифікація конструкцій юстирувальних пристроїв СІ
За призначенням юстувальні пристрою СІ можна класифікувати наступним чином:
пристрої для установки вимірювальних приладів та перетворювачів щодо контрольованої деталі в позицію вимірювання;
пристрої для установки відносного положення вимірювальних опорних, базіровочних і робочих поверхонь СІ;
пристрої, що дозволяють зменшити або виключити вплив різних чинників на точність вимірювання (вплив нерівномірного вимірювального зусилля, зазорів, нерівномірного розподілу зусиль затиску, інерційності механічних частин приладу;
пристрої для безпосереднього впливу на чутливість вимірювального приладу.
Пристрої для встановлення і налаштування СІ в позицію вимірювання
До таких пристроїв відносяться різні типи стійок і штативів.
Стійки мають вимірювальні столи і призначені для установки як вимірювальних приладів, індикаторів і перетворювачів, так і контрольованої деталі.
Стійки випускають декількох типів: С- I, С-II, С-III і С-IV. Перші два типи стійок мають отвори під індикатор діаметром 28 мм, решта діаметром 8 мм. Стійки типу С- I мають додаткові змінні столи: круглий гладкий, круглий ребристий з виступаючою сферичної вставкою і круглий ребристий з виступаючим середнім ребром.
Штативи випускають типів Ш- I для індикаторів з ціною поділки 0,001 - 0,005 мм і Ш-II для індикаторів з ціною поділки 0,01 мм. Крім того, є аналогічні штативи з магнітним підставою ШМ-I і ШМ-II.
Електроконтактні вимірювальні перетворювачі налаштовують на граничні розміри вимірюваної деталі за допомогою настроювальних мікрометричних гвинтів, які мають шкали для грубої настройки. Точна настройка контактів здійснюється за кінцевими мірами.
Пристрої для установки відносного положення вимірювальних опорних, базіровочних і робочих поверхонь СІ
У СІ для контролю розмірів і похибок форми деталей потрібно витримувати точне взаємне розташування площин і прямих, наприклад, паралельність вимірювальних поверхонь мікрометрів, штангенциркулів, перпендикулярність площин вимірювальних столів, стійок приладів напрямку переміщення вимірювальних штоків.
У конструкціях сучасних вимірювальних приладів використ...
