> пр (P), кB
60
80
100
120
140
160
12,5
10
6
3
1
0,5
Отже:, а з формул (4.9 і 4.1):,
тобто пробивну напруга залежить від концентрації нейтралів, яка, у свою чергу, залежить від напруги на проміжку.
Будемо шукати пробивна напруга, вирішуючи систему цих рівнянь для кількох Ib і P (Рішення в MathCAD наведено у додатку 1). br/>
Таблиця 6.2. Експериментальні та розрахункові результати. br/>
P,
mTorr
U пр , кВ
розрахунок
експеримент
Ib = 0A
Ib = 0.5А
Ib = 1A
Ib = 0.5A
Ib = 1A
60
80
100
120
140
160
12,5
10
6
3
1
0,5
14,4
12,4
9,4
4,1
1,2
0,48
15,2
13,5
11,5
6,4
1,5
0,47
14
12
9
6
4
3
15
13
10
7
5
4
За даними таблиці 6.2 побудуємо графіки залежності U пр = f (P) для розрахункових та експериментальних даних.
В
Малюнок 6.1. Графік залежності U пр = f (P) при Ib = 0.5A
В
Малюнок 6.2. Графік залежності U пр = f (P) при Ib = 1A
В
Малюнок 6.3. Графік залежності U пр = f (P) и
7. ВИСНОВКИ
Таким чином, як показали розрахунки, проведені з використанням наведеної вище моделі - при збільшенні енергії зворотного потоку іонів, що утворюються в ускоряющем проміжку плазмового джерела електронів в результаті іонізації газу електронним пучком, має місце зниження концентрації нейтралів. У свою чергу, енергія іонів збільшується у міру зростання струму електронного пучка. Результати моделі знаходяться в доброму згоді з залежностями, отриманими експериментальним шляхом. Локальний нагрів газу електронним пучком веде до збільшення електричної міцності прискорюючого проміжку плазмового джерела електронів у присутності пучка в ускоряющем проміжку, в форвакуумному діапазоні тисків. p> СПИСОК ЛІТЕРАТУРИ
1. Левитський С. М. "Збірник завдань і розрахунків з фізичної електроніці "- Київ, вид-во Київського університету, 1960 - с. 178
2. Гапонов В. І. "Електроніка", ч.1 - М.: Физматгиз, 1960
3. Крейндель Ю. Є. "Плазмові джерела електронів ", 1977
ДОДАТОК 1
br/>
