Теми рефератів
> Реферати > Курсові роботи > Звіти з практики > Курсові проекти > Питання та відповіді > Ессе > Доклади > Учбові матеріали > Контрольні роботи > Методички > Лекції > Твори > Підручники > Статті Контакти
Реферати, твори, дипломи, практика » Новые рефераты » Оцінка конструкторських і технологічних параметрів системи багатошарових металевих межсоединений при розробці БІС

Реферат Оцінка конструкторських і технологічних параметрів системи багатошарових металевих межсоединений при розробці БІС





лі, використовуваної в опроміненні фоторезиста. Чим менше довжина хвилі, тим більш тонкі лінії можна отримати на поверхні фоторезиста. Саме тому при виробництві сучасних мікропроцесорів для опромінення використовують ультрафіолетове, а не видиме випромінювання (довжина хвилі видимого світла більше довжини хвилі ультрафіолетового випромінювання). В даний час для виробництва мікросхем по 130-нанометровим технологічним процесом використовується глибоке ультрафіолетове випромінювання (Deep UltraViolet, DUV) з довжиною хвилі 248 нм. На підході літографічний процес з довжиною хвилі 13 нм, що отримав назву ЕU /-літографії (Extreme UltraViolet - Наджорсткі ультрафіолетове випромінювання). Якщо застосовувана зараз літографічного технологія дозволяє наносити шаблон з мінімальною шириною провідників 100 нм, то EUV-літографія робить можливою друк ліній набагато меншої ширини - до 30 нм. Після засвічування шару фоторезиста приходить черга етапу травлення (etching) з метою видалення плівки діоксиду кремнію. При виробництві процесорів використовується сухий метод травлення, також званий плазмовим. Такий метод дозволяє точно контролювати процес травлення, а руйнування витравлюють шару відбувається тут в строго вертикальному напрямку. При використанні сухого травлення для видалення з поверхні пластини діоксиду кремнію застосовується іонізований газ (плазма). Газ вступає в реакцію з поверхнею діоксиду кремнію, в результаті чого утворюються летючі побічні продукти. Після процедури травлення, тобто коли оголені потрібні області чистого кремнію, видаляється частина, що залишилася фотослоя. Таким чином, на кремнієвій підкладці залишається малюнок, виконаний діоксидом кремнію. Нагадаємо, що попередній процес формування необхідного малюнка на кремнієвій підкладці необхідний для створення в потрібних місцях напівпровідникових структур шляхом впровадження донорной або домішки. Процес впровадження домішок здійснюється за допомогою дифузії. Дифузія - це рівномірне впровадження атомів домішки в кристалічну решітку кремнію. Для процесу дифузії легуючої домішки застосовується іонна імплантація. Процес імплантації полягає в тому, що іони потрібної домішки «вистрілюються» з високовольтного прискорювача і, володіючи достатньою енергією, проникають в поверхневі шари кремнію. Етап іонної імплантації завершується створенням необхідного шару напівпровідникової структури. Саме в цьому першому шарі і зосереджені десятки мільйонів крихітних транзисторів. Далі необхідно в потрібній послідовності з'єднати їх між собою провідниками. Якщо взяти до уваги, що кожен транзистор має стік, витік, затвор і що кожен з цих електродів повинен бути з'єднаний провідником з іншими компонентами, то абсолютно очевидним стає величезна кількість необхідних сполук. Здійснити необхідну розводку в межах того ж шару, де розташовані самі транзистори, просто нереально - неминучі перехрещення між провідниками. Навіть звичайні материнські плати для з'єднання всіх мікросхем один з одним використовують кілька шарів (в даний час використовуються 8-шарові плати). У кожному такому шарі провідники не перехрещуються один з одним. Аналогічно вирішується завдання і в мікросхемах: для з'єднання транзисторів один з одним застосовують кілька шарів металізації, тобто шарів з металевими провідниками, причому чим більше транзисторів налічується в мікросхемі, тим більше шарів металізації використовується. Для з'єднання транзисторів один з одним перш за все необхідно створити провідні контакти...


Назад | сторінка 7 з 10 | Наступна сторінка





Схожі реферати:

  • Реферат на тему: Тонкі плівки нітриду кремнію: синтез і структура
  • Реферат на тему: Дослідження енергетичних характеристик джерел лазерного випромінювання етал ...
  • Реферат на тему: Вплив метилювання поверхні на стійкість наночастинок кремнію
  • Реферат на тему: Властивості кремнію та його сполук
  • Реферат на тему: Процес травлення