0,13610,071430,20750,33Всего55860,40
Середня значень u підраховувалася з таблиці діленням загального числа невідповідностей (з ряду з-значень) на загальне число проконтрольованих одиниць (тобто 14: 15).
U-карта:
центральна лінія:;
;
(тому негативні значення неможливі, нижня межа відсутня).
Дані та контрольні лінії нанесені на малюнку 5. Карта показує, що процес знаходиться в стані статистичної керованості.
Малюнок 5 - U-карта за даними таблиці 2
Відзначимо, що оскільки обсяги підгруп постійні, можна застосувати і з-карту.
C-карта
У таких контрольних картах будується графік числа дефектів (в партії, в день, на один верстат, в розрахунку на 100 футів труби тощо). При використанні карти цього типу робиться припущення, що дефекти контрольованої характеристики продукції зустрічаються порівняно рідко, при цьому контрольні межі для даного типу карт розраховуються на основі властивостей розподілу Пуассона (розподілу рідкісних подій).
При використанні С- і U-карт приймається припущення про те, що дефекти контрольованої характеристики продукції зустрічаються порівняно рідко і контрольні межі для даних типів карт розраховуються на основі властивостей розподілу Пуассона (розподілу рідкісних подій).
При цьому на С- і Np-картах відображається число дефектів (в партії, в день, на один верстат), а на U- і P-картах відображається відносна частота дефектів, тобто відношення числа виявлених дефектів до числа перевірених одиниць продукції.
Методика побудови контрольних карт C типу:
1. Залежно від того задані чи стандартні значення показника якості чи ні перший етап розбивається на два варіанти:
I. Стандартні значення не задані:
· Зберіть попередні дані про протікання процесу. Для цього зафіксуйте наявність або відсутність обраних ознак у кожного виробу розглянутої підгрупи.
- число невідповідностей у підгрупі;
.Рассчітайте середньоарифметичне значенік обчисленого на попередньому кроці статистичного показника:
- середньоарифметичне значення невідповідностей у всіх підгрупах;
де - кількість підгруп.
· Обчисліть значення для центральної лінії, нижнього і верхнього контрольного меж
Стандартні значення задані (тобто задані):
. Обчисліть значення для центральної лінії, нижнього і верхнього контрольного меж
Коли об'єм вибірки змінюється незначно (не більше ± 25% середнього обсягу підгрупи), то можна обмежитися одним набором контрольних кордонів, розрахованим для середнього обсягу підгрупи. Якщо обсяг вибірки змінюється істотно, то для кожної підгрупи розраховують свої контрольні кордону.
1) Накресліть вертикальну вісь. Виберіть масштаб і відображуваний діапазон значень, розмітьте відповідно до них вісь.
2) Накресліть горизонтальну вісь і розбийте її на інтервали, що представляють собою підгрупи.
) Нанесіть на карту обчислені в п. 1 центральну лінію, нижній і верхній контрольні межі.
) Відповідно до одержуваними даними наносите точки контрольованих параметрів показника якості і проводите аналіз контрольної карти.
На цій С-карті показаний добре керований технологічний процес: кількість бракованої продукції в кожній вибірці знаходиться в рамках контрольних меж.
А в цьому прикладі на C-карті спостерігається викид (перша вибірка). Проте відповідні статистики по решті вибірках знаходяться в рамках контрольних меж. Таким чином, на підставі цієї карти, виключивши першого вибірку, можна вважати процес керованим. Якщо проблемна вибірка відображає початок реального технологічного процесу, то, швидше за все, її незадовільна якість пов'язано з первинною настройкою процесу. У цьому випадку рекомендується провести додатковий аналіз якості продукції, виготовленої на початковому етапі і, виключивши наявний викид, визнати процес керованим.
Np-карта
Np-карта - (контрольна карта кількості браку) використовується при контролі деякого властивості деталі, яке досить часто зустрічається у вимірах
Контрольна np-карта служить для відображення зміни числа дефектів по вибірках (партіям) i, i=1, ..., N, за умови рівності обсягів вибірок, великій кількості дефектів (більше 5%) і Біноміальний розподіл змінної величини.
У контрольних картах цього типу будується графік для числа дефектів (в партії, в день, на верстат), як і у випадку С-карти. Однак, контрольні межі цієї карти р...
