и, що полегшують доступ засобів контролю до потрібних ділянок. У деяких випадках для своєчасного виявлення розвиваються дефектів датчики дефектоскопів вбудовуються безпосередньо в авіаційні конструкції.
Методи дефектоскопії засновані на використанні проникаючих випромінювань (електромагнітних, акустичних, радіоактивних), взаємодії електричних і магнітних полів з матеріалами, а також явищ капілярності, світло - та кольороконтрастної. У зонах розташування дефектів в матеріалі, внаслідок зміни структурних фізичних характеристик матеріалу, змінюються умови його взаємодії з зазначеними випромінюваннями, фізичними полями, а також із речовинами, що наносяться на поверхню контрольованої деталі або вводяться в її порожнину. Реєструючи за допомогою відповідної апаратури ці зміни, можна судити про наявність дефектів, що представляють собою порушення суцільності матеріалу або однорідності його складу і структури, визначити їх координати і оцінити розміри. З досить високою точністю можливо також вимірювання товщин стінок порожнистих деталей і нанесених на вироби захисних та інші покриттів.
Дефектоскопія - рівноправне і невід'ємна ланка технологічних процесів, що дозволяє підвищити надійність, довговічність, що випускається. Надійності контролю сприяє його автоматизація, вдосконалення методик, а також раціональне поєднання декількох методів.
Застосування дефектоскопії в процесі виробництва і експлуатації виробів дає великий економічний ефект за рахунок скорочення часу, що витрачається на обробку заготовок з внутрішніми дефектами, економії металу та ін.
3.2 Застосовувані сучасні дефектоскопи для імпедансного контролю тришарових панелей з полімерних композиційних матеріалів до конструкції планера літака
Аналізуючи досвід застосування вітчизняних імпедансних дефектоскопів (ІАД - 3, АТ - 40І, АТ - 42І), що застосовуються для виявлення дефектів в металевих стільникових конструкціях літаків, стає очевидним, що у зв'язку з наявністю в конструкціях з ПКМ літака ЯК - 242 обшивок з широким діапазоном товщин, а також відмінністю креслярських значень товщин від реальних, виникають певні труднощі при використанні імпедансного методу контролю.
Імпедансний метод контролю заснований на попередньому налаштуванні дефектоскопа по контрольних зразках тієї ж конструкції, що і контрольовані зони з ПКМ. Однак, наявність великого набору товщин матеріалів призвело б до необхідності використання великої кількості стандартних зразків і, що найголовніше, при наявності відхилень реальних товщин обшивок від креслярських, могло призвести до помилок при оцінці якості ПКМ (можлива як перебраковка, так і недобраковка - пропуск дефектів ). Внаслідок цього, був розроблений вперше в практиці контролю авіаційних конструкцій з ПКМ, і застосований принцип безеталонного настройки імпедансних дефектоскопів. Для реалізації методу були рекомендовані малогабаритний імпедансний дефектоскоп ВД - 91м, яку в 1991р., А потім дАмі - З 2002 р, пройшли випробування і були включені в відомчий реєстру засобів контролю (рис.11).
Малюнок 11- дефектоскоп ВД - 91м
Застосування імпедансного дефектоскопа нового покоління дАмі-С має більш широкі можливості по дефектоскопії конструкцій з ПКМ і документуванню результатів контролю.
Проведене в процесі відомчих випробувань порівняння чутливості дефектоскопа дАмі-С з аналогічними характеристиками акустичного дефектоскопа ВД - 91м, який вже кілька років використовується в ГА, показали високі технічні характеристики дАмі-С (таблиця 7).
Таблиця 7 - Виявлення дефектів приладами дАмі - З та ВД - 91м
№ обр.Размери образцовМатеріалПлощадь дефекту «кв.мм», (розмір «мм») Виявлення дефектовТіп дефектаОбщая товщина «Н» ммРасстояні до дефект «Ь» ммДАМІІД - 91ММонолітние конструкціі11,9 1,91,0 0,2СВМ400 (20х20) + ++ + розшарування расслоеніе23,75 3.752,3 0,5СВМ + ЕЛУР625 (25х25) + + - + розшарування расслоеніе34,52,8СВМ625 (25х25) + - расслоеніе47,53,3 2,5 0, 5СВМ + ЕЛУР530 (23х23) 530 (23х23) 290 (17х17) + + ++ + + розшарування розшарування расслоеніе59,8== 2 + 7,8 «лист -лист» 2,0Алюміні-евий сплав Д16100 (10х10) ++ непроклей64 , 5=1,5 + 3 «лист-лист» 1,5Алюмініе-вий сплав225 (15х15) ++ непроклейСотовие конструкціі742,3 ви-сота сот2,0 обшівкаОбшівка -СВМ, стільники - ССП, осередок 2,5мм177 (діаметр 15 мм ) ++ Відшарування обшивки від сот
У результаті випробувань встановлено, що дефектоскопом дАмі-С надійно виявляються всі дефекти в клеєних стільникових конструкціях, як з металів, так і з ПКМ. У приладі використовуються, як стандартні перетворювачі акустичних імпедансних дефектоскопів типу ПАДІ, так і нові малогабаритні, розроблені спеціально для даного приладу (таблиця 8)....
