Теми рефератів
> Реферати > Курсові роботи > Звіти з практики > Курсові проекти > Питання та відповіді > Ессе > Доклади > Учбові матеріали > Контрольні роботи > Методички > Лекції > Твори > Підручники > Статті Контакти
Реферати, твори, дипломи, практика » Курсовые обзорные » Установка для вивчення стану поляризації відбитого від прозорих діелектриків світла

Реферат Установка для вивчення стану поляризації відбитого від прозорих діелектриків світла





Установа освіти

В«Брестський Державний університет імені А.С. Пушкіна В»

Кафедра загальної фізики











Курсова робота

УСТАНОВКА ДЛЯ ВИВЧЕННЯ СТАНУ поляризації відбитого від прозорих ДІЕЛЕКТРИКІВ СВІТЛА













Брест 2012

Зміст


Введення

Завдання і опис методу

Способи отримання та аналізу поляризованого світла

Установка, пояснення і схематичне зображення

Реалізація методу на практиці

Опис ходу роботи

Практична частина роботи

Висновок

Список використаної літератури


Введення


В даний час вельми актуальне питання дослідження властивостей поверхонь тонких плівок, які мають досить велику перспективу використання в пристроях наноелектроніки. Однак, вимірювання параметрів плівок нанометрових товщин має свою специфіку. Зокрема, при отриманні наноструктур в умовах надвисокого вакууму, постає проблема контролю їх властивостей безпосередньо в процесі виготовлення - дослідження таких структур на повітрі найчастіше неможливо, у зв'язку з високою хімічною активністю багатьох матеріалів, що використовуються в даній області. Тут велику перевагу мають оптичні методи, тому що не роблять впливу на досліджуваний зразок і мають певну гнучкість при використанні безпосередньо в сверхвисоковакуумних камері. Зокрема, відомий метод еліпсометрії, заснований на аналізі зміни поляризації світла при відбитті від досліджуваного зразка. Відомий також метод магнітооптичні ефекту Керра (Мокія). В обох методів схожі оптичні схеми вимірювань, а по набору вимірюваних параметрів вони взаємно доповнюють один одного. Метод еліпсометрії використовується для вимірювання оптичних постійних заломлення і поглинання матеріалу, а також для вимірювання товщин тонких плівок. Метод Мокія застосовується для вивчення магнітних властивостей матеріалу. Обидва методи є неруйнівними, що не змінюють властивості матеріалу і володіють достатньою чутливістю. p align="justify"> Оптика вивчає світло - один з найпотужніших інструментів пізнання світу. Однак для використання цього інструменту необхідно знати як отримати необхідні дані і правильно їх інтерпретувати. Велику частину інформації про світ людина отримує за допомогою світла. Але він отримує її не напряму, а через ті параметри які набуває і змінює світ при взаємодії з мікро-і макрооб'єктами. Причому це можуть бути не тільки макрохарактеристик об'єктів (колір, розміри і т.д.), але і будова молекул, кристалів, процеси, які протікають в них. p align="justify"> Одним...


сторінка 1 з 9 | Наступна сторінка





Схожі реферати:

  • Реферат на тему: Методи структурного аналізу тонких плівок. Метод дифракції електронів низь ...
  • Реферат на тему: Магнетронний метод отримання тонких плівок на поверхні стекол
  • Реферат на тему: Дослідження впливу параметрів MOCVD-осадження на структуру, електричні і ма ...
  • Реферат на тему: Обертання площини поляризації при поширенні світла в розчині цукру
  • Реферат на тему: Експериментальні методи дослідження теплових властивостей плівок з полімерн ...