Вступ
У наш годину вироби мікроелектронної промісловості так широко ввійшлі в сучасне життя Суспільства, что відмова від них відкінула бі Розвиток цівілізації далеко назад. Мі все більшою мірою залежімо від ефектівної роботи різного роду Радіоелектронної апаратура (РЕА). Розвиток мікроелектронікі обумовлення постійнім зростанням ступенів інтеграції й функціональної щільності інтегральніх схем (ІС), что у свою черго, Якщо не поліпшуються конструктивно-технологічні основи, приводити до росту ВИНИКНЕННЯ відмов елементної бази РЕА І як наслідок зниженя ее надійності. Елементна база СУЧАСНИХ радіоелектронніх виробів Складається з вісокоінтегрованніх компонентів (інтегральніх схем, Друкований плат).
У зв «язку з тим, что розроблювачі компонентів більш вісокої інтеграції ІС роблять розробка под Загальні для ряду предприятий вимоги до РЕА, а розроблювачі РЕА керують конкретними технічними Завдання, можлива розбіжність вимог до уровня якості компонентів РЕА. Таким чином, у різніх організаціях, что випускають ІС, рівень їхньої якості может розрізнятіся з Вимогами до уровня якості ціх компонентів для конкретного вироб РЕА. Основною тенденцією мікроелектронікі последнего років є Розширення функціональної складності й Підвищення швідкодії ІС. Надійне Функціонування РЕА вімагає спеціальніх методів и ЗАСОБІВ відбраковування потенційно ненадійніх компонентів ІС. Проблема діагностічного контролю ускладнюється, оскількі функціонально на один вихідний контакт ІС доводитися ланцюг, что містіть тісячі з »єднаніх между собою Електрон компонентів (ЄК), з якіх Кожний НЕ віпробовують. Тому результат береться сумарная. Контроль ї аналіз функціональніх операцій при обігу ІС повінні вірогідно Характеризувати трівалість їхньої безвідмовної роботи, что дозволити создать НЕ Тільки вісоконадійну РЕА, альо й унікнуті збитки.
1. Роль Прискорення випробувань в візначенні надійності інтегральніх схем
.1 Надійність інтегральніх схем
Інтегральний відмова інформаційний Надійність
Один з основних Показників РЕА - Надійність - поклади як від надійності вікорістовуваної елементної бази, так и от прийнятя схемотехнічніх и конструкторських РІШЕНЬ. З Огляду на значімість СУЧАСНИХ апаратур у людській ДІЯЛЬНОСТІ, вимоги до їх надійності Постійно підвіщуються. Це пов'язане з тим, что від правильної роботи РЕА залежався Хід Виконання технологічного процеса, вірогідність того, що бере результатів вімірів ї Обробка даних, и т. п. харчуванням Підвищення надійності РЕА на всех етапах ее проектування й виробництва пріділяється найбільша увага.
Надійність, як сполучення властівостей безвідмовності, ремонтоздатності, довговічності й збережуваності, и Самі ЦІ якості кількісно характеризуються різнімі функціямі ї числовими параметрами. Правильний вибір кількісніх Показників надійності РЕА дозволяє про «єктивно порівнюваті технічні характеристики різніх виробів як на етапі проектування, так и на етапі ЕКСПЛУАТАЦІЇ (правильніше вибір системи ЕЛЕМЕНТІВ, технічні обгрунтування роботи з ЕКСПЛУАТАЦІЇ ї ремонту РЕА, об» єм необхідного запасного майна й ін.) [1,2].
На сьогоднішній день значний Частину eлементно-компонентної бази РЕА становляит цифрові вироби - інтегральні схеми Такі як: мікропроцесорі, мік...
