і фази двовалентної міді, що експериментально виявлено Л.Д. Юшин.  
 Про застосовності рівнянь дифузійної кінетики.  У разі медьпроводящіх твердих електролітів, наприклад, СіД, в осередках (1) концентрація електронних дефектів (дірок або Сі24) в електроліті повинна відповідати рівноваги реакції (26) і потенціал р0 індиферентного електрода повинен бути рівний нулю щодо міді.  Проте в реальних осередках (27) не дорівнює нулю і складає, як правило, 0,4 ... 0,5 В. Отже, можна припустити, що в електроліті має місце значний початковий градієнт концентрації електронних дефектів і застосування дифузійних рівнянь (При виведенні яких одним з граничних умов є відсутність такого градієнта) неправомірно.  Проте в розділах 2 і 3 показано, що кінетичні закономірності електродних процесів за участю електронних дефектів добре описуються рівняннями дифузійної кінетики. 
  Це позірна протиріччя можна пояснити своєрідним початковим концентраційним профілем електронних дефектів в комірці (27), побудованим за допомогою (2), (3) і (28) і наведеним.  Видно, що практичні скі весь градієнт концентрації електронних дефектів зосереджений в тонкому шарі оксидів міді з причин, висвітленим у розділі 3.  Власне в електроліті, тобто  між кордонами СІО/ОК і СіД/С, на яких йдуть електрохімічні реакції, початкова різниця концентрацій становить менше одного порядку величин. 
  Зазвичай діркову провідність СТА вираховують з висхідній анодної гілки ВАХ по (34). Однак при наявності ЕРС блокуючого електрода близько 0,5 В цю ділянку ВАХ не можна використовувати, т. к.  він знаходиться в небезпечній близькості до потенціалу розкладання електроліту (0,58 В).  Мабуть, більш надійним буде обчислення А з величини граничного струму (35).  По-перше, ця ділянка ВАХ знаходиться досить далеко як від потенціалу розкладання, так і від потенціалу виділення міді (-50 мВ), і, по-друге, при катодного поляризації блокуючого електрода розкладання електроліту неможливо. 
				
				
				
				
			  З цього рівності випливає, що величина діркової провідності залежить від концентрації електронних дефектів в електроліті.  Отримана величина Л {см.  (36)} характеризує досліджуваний нерівноважний зразок CU4RD з концентрацією електронних дефектів 1,25 x3.  Якщо гіпотетично привести зразок електроліту в термодинамічна рівновага з міддю, то концентрація дефектів становитиме 4,17 х1 см і, при незалежності D 2 + від концентрації, діркова провідність, згідно (37), повинна скласти: 895747 р/см. 
  Мабуть, це і є термодинамічно обумовлена ​​величина діркової провідності СіД. 
  У четвертій главі наведено результати розробки методик вирощування монокристалів медьпроводящіх електролітів з розчинів [12,35,36]. 
  Постановка цих досліджень зумовлені тим, що при зростанні кристалів можливо вдасться знизити концентрацію домішки Сі2 + в матеріалі кристалів за рахунок додавання в ростової розчин спеціальних відновників двовалентної міді до одновалентного стану. 
  Проведено розрахунки хімічних рівноваг...