Іонна
пастка
времяпролетного
времяпролетного рефлектрон
Магнітний сектор
FTMS
Квадрупольний TOF
Точність
0.01% (100 ppm)
0.01% (100 ppm)
0.02 to 0.2% (200 ppm)
0.001% (10 ppm)
<0.0005% (<5 ppm)
<0.0005% (<5 ppm)
0.001% (10 ppm)
Дозвіл
4,000
4,000
8,000
15,000
30,000
100,000
10,000
Діапазон m/z
4,000
4,000
> 300,000
10,000
10,000
10,000
10,000
Швидкість сканування
~ секунда
~ секунда
мілісекунди
мілісекунди
~ секунда
~ секунда
~ секунда
Тандемна MS
MS 2 (Потрійний квадруполь)
MS n
MS
MS 2
MS 2
MS n
MS 2
Коментарі до тандемної MS
Хороша точність
Хороше дозвіл
Низькоенергетичні зіткнення
Хороша точність
Хороше дозвіл
Низькоенергетичні зіткнення
Практично незастосовна
Вибір іона-прекурсору обмежений широким діапазоном мас;
Зростаюче число додатків
Обмежене дозвіл
Високоенергетичні зіткнення
Відмінна точність і дозвіл іонів продуктів
Чудова точність
Хороше дозвіл
Низькоенергетичні зіткнення
Висока чутливість
Загальні коментарі
Мала вартість
Легкість перемикання між +/- іонами
Схожі реферати:
Реферат на тему: Метод експертного багатокритеріального оцінювання. Метод аналізу ієрархій ...Реферат на тему: Іонна імплантація Реферат на тему: Електрогравіметріческій метод аналізуРеферат на тему: Кондуктометричний метод аналізуРеферат на тему: Метод аналізу ієрархій
|
Український реферат переглянуто разів: | Коментарів до українського реферату: 0
|
|
|