роведенні високотемпературних експериментів. Добре сфокусований пучок електронів з невеликою расходимостью при малих кутах падіння може бути отриманий в серійно випускаються Електронограф та електронних мікроскопах.
Цікаві дослідження проведені ковзаючим пучком електронів за двошаровою плівці [24, 25]. Тонкий шар одного металу нанесли на поверхню іншого і фіксували дифракційну картину при малих кутах падіння. Різна природа речовин дозволяє виявити особливості процесів, що мають місце при нагріві і плавленні. Найтонші моноатомного шари свинцю і олова на поверхневих гранях германієвих і мідних кристалів сформували електронограмі з дифузних смуг, перпендикулярних пучку електронів. Багаторазове сканування дифрактограми дозволило виділити з сумарною інтенсивності розсіювання внесок підкладки і знайти структурний фактор двовимірної ізотропної плівки. Цей підхід дозволив розкрити вплив різних граней кристалічної підкладки на формування структури покриває її рідини. Однак мала товщина плівки не дала можливості вести тривалі спостереження при перегревах через швидке випаровування рідини. Не визначені і параметри ближнього порядку рідкої плівки на кристалічній підкладці.
Рентгенівський промінь, падаючий під малими кутами на зразок, дозволив Раїсу із співробітниками [26, 27] оцінити товщину перехідної зони в рідких ртуті та цезіі. Вона виявилася рівною 0,560 нм для ртуті та 0,329 нм - для цезію. Ці досліди були, мабуть, першими спробами експериментального знаходження структурних параметрів перехідного шару. Слід, однак, відзначити що товщина досліджуваного цим методом шару залежить від кута падіння рентгенівських променів на поверхню і лежить в інтервалі від десятків нанометрів до мікрона. Ці значення набагато перевищують теоретичні та експериментальні оцінки товщини поверхневого шару, отже, даний метод не може бути віднесений до поверхневих.
Для реалізації методу даного методу виготовлено [28] спеціальний пристрій, в якому електронний пучок електронного мікроскопа з вертикальною віссю міг під ковзаючим кутом взаємодіяти з поверхнею розплаву
.3 Конструктивні особливості мікроскопів призначених для дослідження структури поверхневих шарів металевих розплавів
Основним елементом пристрою є осередок 1, що виготовляється з корунду, стеклографіта або іншого вогнетривкого матеріалу, погано змочуваного досліджуваним розплавом, і що має вигляд пробірки, в дні якої передбачені вузькі променеподібні прорізи 2 (рис.12).
Рис.12. Пристрій для дослідження структури поверхневих шарів розплавів
Така конструкція дозволяє утримувати розплав у формі краплі 3 бажаного розміру (10-3 - 10-2 м) і вільно пропускати через проріз частина розсіяного пучка електронів для реєстрації дифракційної картини.
Матеріал осередку повинен погано смачиваться розплавом, щоб крапля мала добре виражену екваторіальну область, на яку йде розсіювання електронів, і не забруднювалася цим матеріалом.
Для нагрівання осередку із зразком використовувалася піч, яка розміщувалася в робочому обсязі електронного мікроскопа УЕМВ - 100К на місці селекторній діафрагми. Трубчаста конструкція печі з вертикальною віссю термічної зони, що збігається з оптичною віссю мікроскопа, дозволяє розмістити зразок у зоні, де може бути забезпечен...
